@article{article_541139, title={İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme}, journal={Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi}, volume={24}, pages={5–11}, year={2020}, DOI={10.19113/sdufenbed.541139}, author={Gurkan, Koray}, keywords={Analog circuit design,Capacitive measurement,Sensor,Yarn unevenness}, abstract={<span lang="tr" style="font-size:11pt;line-height:115%;font-family:Cambria, serif;" xml:lang="tr">Tekstil sektörü, hızla gelişen ve Türkiye ihracatının büyük kısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinin dış piyasa ile rekabet edebilmesi için ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplik kalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir. Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir. </span>}, number={1}, publisher={Süleyman Demirel University}