@article{article_927078, title={Measurement of K Level Natural Line Widths, Kα1 and Kα2 X-Ray Line Widths}, journal={Erzincan University Journal of Science and Technology}, volume={14}, pages={837–848}, year={2021}, DOI={10.18185/erzifbed.927078}, author={Söğüt, Ömer}, keywords={K X-rays, chemical effect, fluorescence yield, line width}, abstract={Bu çalışmada Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu ve Zn element ve bileşiklerinin K kabuğu doğal çizgi genişlikleri ile Kα1 ve Kα2 X-ışını çizgi genişlikleri yarı deneysel olarak, K kabuk flüoresans verimi değerleri kullanılarak hesaplandı. Numuneleri uyarmak için 75mCi şiddetinde ve 59. 5 keV enerjili gama ışınları yayınlayan 241Am radyoizotop kaynağı kullanıldı. Numunelerden yayınlanan K X-ışınlarını saymak için çözünürlüğü 5.96 keV’de 155 eV olan katı hal Si(Li) detektörü kullanıldı. Kimyasal yapıya bağlı olarak K seviyesi doğal çizgi genişliği ile Kα1 ve Kα2 X-ışını çizgi genişliklerinin değiştiği tespit edildi. Sonuçlar bileşiklerde ölçülen ΓK, ΓKα1 and ΓKα2 çizgi genişliklerinin saf element değerlerine göre % 5-48 kadar değiştiğini göstermektedir. Ancak, saf elementler için ölçülen deneysel sonuçlar, literatürdeki diğer araştırmacıların sonuçlarıyla hata sınırları dâhilinde iyi bir uyum içinde olduğu bulunmuştur.}, number={2}, publisher={Erzincan Binali Yıldırım Üniversitesi}, organization={Kahramanmaraş Sütçü İmam Üniversitesi Araştırma Projeleri Koordinasyon Birimi}