Research Article

Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler

Volume: 20 Number: 2 November 15, 1996
  • Doğan Paktunç

Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler

Abstract

Mikroanaliz, mineral ve materyallerin bir ile birkaç yüz mikron küp arasında değişen kısımlarının elementsel veya izotopik analizi olarak tanımlanabilir. Yerbilimlerinde ve metalurjide kayaç ve cevher örnekleri içerisindeki minerallerin mikroanalizleri için kullanılan aletler şöyle sıralanabilir: elektron mikroprob (EPMA), enerji yayılımı spektrometre donanımlı taramalı elektron mikroskop (SEM -EDXA), proton mikroprob (micro- PIXE), iyon mikroprob (SIMS), lazer mikroprobları, akselaratör kütle spektrometresi, X-ışınları floresans mikroprobu (XRMF) ve sinkrotron X-ışınları floresansı (SXRF). Elektron mikroprob, minerallerin birkaç mikron büyüklüğündeki yerlerinin major ve minör element değerlerinin kantitatif olarak saptanmasında kullanılırken, taramalı elektron mikroskop'a bağlı enerji yayılımı x-ışını mikroanalizi (SEM- EDXA) ise esas olarak major ve minör elementlerin yarı kantitatif ve kalitatif analizlerinde kullanılmaktadır. Oksijen, karbon ve bunun gibi atom numarası 11'den küçük hafif elementlerin duraylı ve hassas bir şekilde kantitatif analizleri bu tekniklerle yapılamamaktadır. Proton ışınlarınca oluşturulan X-ışınları emisyonu prensibine (µPIXE) bağlı proton mikroprob, minerallerin iz element miktarlarının kantitatif olarak saptanması amacıyla geliştirilmiş bir teknik olup, en düşük saptama derecesi 1 ile 10 ppm arasında değişmektedir. İyon mikroprob, bir ilksel iyon ışın demetinin örneğe çarpması ile oluşturulan ikincil iyonların kütle spektometresinde analizi prensibine (SIMS) dayanan bir alet olup, minerallerin iz element analizlerinde, hafif elementlerin (atom numarası<10) kantitatif analizleri ve izotop oranlarının saptanmasında kullanılmaktadır. Analitik duraylılıkları % 5 ile 10 arasında değişen bu tekniğin en düşük saptama değerleri elemente ve mineral cinsine bağlı olarak birkaç yüz ppb'den yaklaşık 1 ppm’e kadar değişmektedir. Lazer mikroprobları ise lazer ışınlarınca örneklenen materyallerin değişik kütle spektrometrelerince analizi prensibine dayanmaktadır. Lazer mikroproblarının kullandım alanları kullanılan kütle spektrometresinin cinsine bağlı olarak iz elementlerin kantitatif analizlerinden duraylı ve radyojenik izotop oranlarının saptanmasına kadar değişebilmektedir. İyon mikroprob ve lazer mikroproblarının kantitatif analizlerde etkin ve yaygın bir kullandım alanı bulmaları, aletlerin gerekli hassasiyette kalibrasyonlarının yapılmasına ve uygun standartların bulunmasına bağlı olmaktadır.

Keywords

References

  1. Cabri, L.J. and McMahon, G., 1995, SIMS analysis of sulfide minerals for Pt and Au: Methodology and relative sensitivity factors (RSF). Canadian Mineralogist 33. 349 - 359.
  2. Camphell, J.L., Teesdale, W.J., and Halden, N.M., 1995. Theory, practice and application of micro – PIXE analysis and element - distribution maps. Canadian Mineralogist 33, 279 - 292.
  3. Camphell, J.L., Maxwell, J.A., Teesdale, W.J., Wang, J.-X. and Cabri, L.J., 1990, Micro - PIXE as a complement to electron probe micronalysis in mineralogy. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 44, 347 - 356.
  4. Crowe, D.E., Valley, J.W., and Baker, K.L., 1990, Micro - analysis of sulfur - isotope ratios and zonation by laser microprobe; Geochimica et Cosmochimica Acta 54, 2075 - 2092.
  5. Czamanske. G.K., Sisson, T.W., Camphell. J.L., and Teesdale, W.J., 1993, Micro - PIXE analysis of silicate reference standards; American Mineralogist, 78, 893 - 903.
  6. Hirata. T. and Nesbitt, R.W., 1995. U- Pb isotope geochronology of zircon: Evaluation of the laser probe - inductively coupled plasma mass spectrometry technique; Geochimica et Cosmochimica Acta, 59, 2491 - 2500.
  7. Kyser, T.K., 1995, Micro- analytical techniques in stable - isotope geochemistry; Canadian Mineralogist 33, 261- 278.
  8. Lanzirotti, A., 1995, Yttrium zoning in metamorphic garnets; Geochimica et Cosmochimica Acta, 59, 4105 - 4110.

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

Geological Sciences and Engineering (Other)

Journal Section

Research Article

Authors

Doğan Paktunç This is me
Canada

Publication Date

November 15, 1996

Submission Date

June 1, 1996

Acceptance Date

November 1, 1996

Published in Issue

Year 1996 Volume: 20 Number: 2

APA
Paktunç, D. (1996). Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler. Jeoloji Mühendisliği Dergisi, 20(2), 41-48. https://izlik.org/JA62ND74NE
AMA
1.Paktunç D. Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler. Jeoloji Mühendisliği Dergisi. 1996;20(2):41-48. https://izlik.org/JA62ND74NE
Chicago
Paktunç, Doğan. 1996. “Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler”. Jeoloji Mühendisliği Dergisi 20 (2): 41-48. https://izlik.org/JA62ND74NE.
EndNote
Paktunç D (November 1, 1996) Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler. Jeoloji Mühendisliği Dergisi 20 2 41–48.
IEEE
[1]D. Paktunç, “Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler”, Jeoloji Mühendisliği Dergisi, vol. 20, no. 2, pp. 41–48, Nov. 1996, [Online]. Available: https://izlik.org/JA62ND74NE
ISNAD
Paktunç, Doğan. “Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler”. Jeoloji Mühendisliği Dergisi 20/2 (November 1, 1996): 41-48. https://izlik.org/JA62ND74NE.
JAMA
1.Paktunç D. Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler. Jeoloji Mühendisliği Dergisi. 1996;20:41–48.
MLA
Paktunç, Doğan. “Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler”. Jeoloji Mühendisliği Dergisi, vol. 20, no. 2, Nov. 1996, pp. 41-48, https://izlik.org/JA62ND74NE.
Vancouver
1.Doğan Paktunç. Yerbilimlerinde Mikroanalitik Yöntemler. Jeoloji Mühendisliği Dergisi [Internet]. 1996 Nov. 1;20(2):41-8. Available from: https://izlik.org/JA62ND74NE