ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU

Volume: 5 Number: 2 March 1, 2010
  • Coskun Harmansah
  • Müslim Murat Sac
  • Mehmet Bayburt
EN TR

ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU

Abstract

İyon implantlı silikon dedektörler özellikle çevresel uygulamalardaki nicel analizler için alfa radyasyonu tespitinde kullanılmaktadırlar. Alfa radyasyonunun nicel ölçümleri için, bu tip dedektörlerin karakterizasyonu ve kalibrasyonu mutlaka gerekmektedir. Bu çalışmada, oda sıcaklığında 5.485 MeV'luk karakteristik enerjiye sahip olan Am-241 kaynağı kullanarak silikon dedektör ve CSA (yüke duyarlı amplifikatör) test edilmiştir. Bu deneylerin amacı ise toprak içinde karşılaşılan radyasyon enerjileri ve aynı tipteki parçacıklara karşı dedektörün tepkisini ortaya koymak ve dedektörün kalibrasyonu olmuştur. Bunu sağlamak için ise 400 ns'lik puls genişliği diskriminasyonu ayarlanmıştır. Deneysel sayım sonuçları bu sistemin gerçek zamanlı radon ölçümlerinde kullanılabileceğini göstermiştir.

Keywords

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

-

Journal Section

-

Authors

Coskun Harmansah This is me

Müslim Murat Sac This is me

Mehmet Bayburt This is me

Publication Date

March 1, 2010

Submission Date

August 29, 2014

Acceptance Date

-

Published in Issue

Year 2010 Volume: 5 Number: 2

APA
Harmansah, C., Sac, M. M., & Bayburt, M. (2010). ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU. Engineering Sciences, 5(2), 293-299. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093
AMA
1.Harmansah C, Sac MM, Bayburt M. ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU. Engineering Sciences. 2010;5(2):293-299. doi:10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093
Chicago
Harmansah, Coskun, Müslim Murat Sac, and Mehmet Bayburt. 2010. “ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU”. Engineering Sciences 5 (2): 293-99. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093.
EndNote
Harmansah C, Sac MM, Bayburt M (March 1, 2010) ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU. Engineering Sciences 5 2 293–299.
IEEE
[1]C. Harmansah, M. M. Sac, and M. Bayburt, “ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU”, Engineering Sciences, vol. 5, no. 2, pp. 293–299, Mar. 2010, doi: 10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093.
ISNAD
Harmansah, Coskun - Sac, Müslim Murat - Bayburt, Mehmet. “ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU”. Engineering Sciences 5/2 (March 1, 2010): 293-299. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093.
JAMA
1.Harmansah C, Sac MM, Bayburt M. ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU. Engineering Sciences. 2010;5:293–299.
MLA
Harmansah, Coskun, et al. “ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU”. Engineering Sciences, vol. 5, no. 2, Mar. 2010, pp. 293-9, doi:10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093.
Vancouver
1.Coskun Harmansah, Müslim Murat Sac, Mehmet Bayburt. ALFA PARÇACIK ÖLÇÜMLERİ İÇİN İYON İMPLANTLI SİLİKON BİR DEDEKTÖRÜN KARAKTERİZASYONU VE KALİBRASYONU. Engineering Sciences. 2010 Mar. 1;5(2):293-9. doi:10.12739/nwsaes.v5i2.5000067093