In order to test the statistical proficiencies of the random numbers generated by the random number generators,
various test packages such as Crypt-X, Diehard, FIPS 140 and NIST have been developed. Especially NIST
package has been mostly used, considered as a valid standard in testing the big random number series. In order
for the bit series to be successful in the NIST test, they have to pass all the tests successfully. However, in many
studies performed, thirteen results out of sixteen studies were given in many studies performed. The tests of
Random Walk, Random Walk Variable and Lempel Ziv Test, whose results were not given, were not announced
due to the inadequacy of bit series and the ambiguity. In the study conducted for this reason, these three tests
have been explained in detail and a random bit series has been developed by using the linear congruential
method. The random bit series generated has been able to pass all the NIST tests successfully.
Rasgele sayı üreteçleri tarafından üretilen rasgele sayıların istatistiki olarak yeterliliklerini test etmek amacıyla
Crypt-X, Diehard, FIPS 140 ve NIST gibi çeşitli test paketleri geliştirilmiştir. Özellikle büyük rasgele sayı
dizilerinin test edilmesinde geçerli bir standart olarak kabul edilen NIST test paketi çoğunlukla kullanılmaktadır.
Üretilen bit dizilerin NIST testinden başarılı olması için tüm testleri başarılı olarak geçmesi gerekir. Ancak
yapılan birçok çalışmada on altı testten on üçünün sonucu verilmektedir. Sonucu verilmeyen, Rasgele Yürüyüş,
Rasgele Yürüyüş Değişken ve Lempel Ziv Testleri ise yeteri miktarda bit dizisi elde edilememesi ve
anlaşılamaması sebebiyle verilmemektedir. Bu amaçla gerçekleştirilen çalışmada bu üç test ayrıntılı olarak
açıklanmış olup, doğrusal eşleniksel yöntem kullanılarak rasgele bit dizisi üretilmiştir. Üretilen rasgele bit dizisi
tüm NIST testlerinden başarıyla geçmiştir
Other ID | JA56NR89FE |
---|---|
Journal Section | Articles |
Authors | |
Publication Date | March 1, 2015 |
Submission Date | March 1, 2015 |
Published in Issue | Year 2015 Volume: 10 Issue: 1 |