Bu çalışmada, SiO2 ve TiO2 kullanılarak oluşturulan lowpass (düşük geçirgenlik bölgesine sahip) ve highpass (yüksek geçirgenlik bölgesine sahip) girişim filtrelerinin tasarımı ve geçirgenlik özellikleri araştırılmıştır. Tek katmanlı filtreden süzülen ışığın absorpsiyon kenarı istenen sonucu veremez. Ancak çok katmanlı girişim filtreleri filtreden geçen ışığın absorpsiyon kenarını keskinleştirmekte ve geçişi istenmeyen bölgeyi tamamen absorbe etmektedir. Bu çalışmada vakumda buharlaştırma tekniği ile oluşturulan girişim filtrelerinin geçirgenlik özellikleri UV spektroskopisi ile incelenmiş ve lowpass ve highpass filtreden geçen ışığın görünür bölgedeki temel absorpsiyon kenarı ve maksimum geçirgenliği sırasıyla 580 ve 500 nm ve %91, %93,5 olarak bulunmuştur. Ayrıca katmanların karakteristiklerini belirlemek amacıyla EDX spektrumları alınmıştır.
Primary Language | Turkish |
---|---|
Journal Section | Articles |
Authors | |
Publication Date | August 1, 2011 |
Submission Date | August 8, 2015 |
Published in Issue | Year 2011 Volume: 11 Issue: 2 |
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.