Recently, ZnO films are among the preferred transparent conductive oxides because of their advantageous properties such as absence of toxicity, low cost and abundance in nature. In this study, undoped and Mg doped ZnO films have been deposited onto microscope glass substrates at 400±5 ºC by using Ultrasonic Spray Pyrolysis which is simple and economic technique. XRD diffraction patterns have been confirmed that all films have hexagonal wurtzite type structure. Optical transmittance of the films has been shown that have an average transmittance between 65-80% in the visible region. Optical band gap values of films that are obtained using optical method have been increased with Mg doping. The surface topographies of the films in three dimensions and surface roughness have been examined by Atomic Force Microscope. The effect of different Mg concentration doping on the structural, optical, surface properties of ZnO films has been investigated with this study. It has determined that Mg doped ZnO films are suitable for optoelectronic applications. 1. Giriş Saydam iletken oksit grubuna ait olan ZnO II-VI grup bileşiği olup, yüksek elektriksel iletkenliğe ve oda sıcaklığında yaklaşık 3,2 eV’ luk yasak enerji aralığına sahip direkt bant geçişli n-tipi yarıiletkendir [1]
Son yıllarda, ZnO filmler zehirsiz olması, düşük maliyetli ve doğada bol bulunması gibi avantajlı özellikleri nedeniyle tercih edilen saydam iletken oksitler arasında yer almaktadırlar. Bu çalışmada, katkısız ve Mg katkılı ZnO filmleri mikroskop cam tabanlar üzerine, ekonomik ve kolay uygulanabilir bir yöntem olan ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile 400±5oC taban sıcaklığında üretilmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden, tüm filmlerin kristal yapısının hekzagonal yapıda olduğu belirlenmiştir. Filmlerin optik geçirgenlik spektrumu, görünür bölgede % 65 ile % 80 aralığında değişen geçirgenlik değerlerine sahip olduğunu göstermektedir. Optik metot kullanılarak elde edilen bant aralığı değerlerinin Mg katkısı ile birlikte arttığı görülmüştür. Filmlerin yüzey morfolojileri atomik kuvvet mikroskobu ile analiz edilmiş ve yüzey pürüzlülük değerleri belirlenmiştir. Yapılan bu çalışma ile farklı oranlarda Mg katkısının ZnO filmlerinin yapısal, optik ve yüzeysel özellikleri üzerine etkisi araştırılmış ve Mg katkılı ZnO filmlerinin optoelektronik uygulamalar için uygun malzemeler oldukları belirlenmiştir. Synthesis and Characterization of Mg Doped ZnO Thin Films
Other ID | JA84ZH73BB |
---|---|
Journal Section | Research Article |
Authors | |
Publication Date | May 1, 2017 |
Published in Issue | Year 2017 Volume: 19 Issue: 56 |
Dokuz Eylül Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi Dekanlığı Tınaztepe Yerleşkesi, Adatepe Mah. Doğuş Cad. No: 207-I / 35390 Buca-İZMİR.