Ag/TiO2/n-InP SCHOTTKY BARİYER DİYOTUN AKIM-VOLTAJ KARAKTERİSTİKLERİ
Abstract
Ag/TiO2/n-InP/Au
Schottky bariyerli diyotların akım-voltaj karakteristikleri 300-400 K sıcaklık
aralığında incelendi. Metal ile yarıiletken arasına 120 Å kalınlığında
TiO2 film
tabakası oluşturuldu. Diyotun ileri beslem akım-voltaj (I-V) karakteristiklerinden
termiyonik emisyon modeline göre, sıfır beslem bariyer yüksekliği ve idealite
faktörü parametreleri hesaplandı. Parametrelerin sıcaklığa bağlı olarak
değiştiği ve sıcaklık artarken bariyer yüksekliğinin arttığı ve idealite
faktörünün azaldığı görüldü.
Keywords
References
- [1] H. Çetin, E. Ayyıldız, “Electrical characteristics of Au, Al, Cu/n-InP Schottky contacts formed on chemically cleaned and air exposed n-InP surface”, Physica B, 394, 93-99,( 2007)
- [2] S. Sankar Naik, V. Rajagopal Reddy, Chel-Jong Choi, Jong Seong Bae, ”Electrical and structural properties of double metal structure Ni/V Schottky contacts on n-InP after rapid thermal process” J. Mater. Sci., 46, 558-565, (2010)
- [3] H. Çetin, E, Ayyıldız, ”On barrier height inhomogeneities Of Au And Cu/N-Inp Schottky contacts”, Physica B, 405, 559, (2010)
- [4] S. Miyazaki, T.C. Lin, C. Nishida, H.T. Kaibe, T. Okumura, ”Morphological and electrical characterization of Al/Ni/n-lnP contacts with tapered insertion Ni-layer”, Electron Mater, 25,577,( 1996)
- [5] W.C, Huang, Cai Dong-Rong,” International workshop on junction technology”, p 295,( 2006)
- [6] V. Janardhanam, A. Ashok Kumar, V. Rajagopal Reddy, P. Narasimha Reddy,”Effects of annealing temperature on electrical and structural properties of Mo/n-InP (100) Schottky contacts”, Surf. Interface Anal., 41, 905,( 2009)
- [7] E.H. Rhoderick, R.H. Williams, ”Metal-semiconductor contacts”, 2nd edition Clarendon pres, Oxford, (1988)
- [8] R.H. Williams, G.Y. Robinson, ”Physics and chemistry of III-V compound semiconductor interfaces”, Pleneum press, New York, (1985)
Details
Primary Language
Turkish
Subjects
Metrology, Applied and Industrial Physics
Journal Section
Research Article
Publication Date
January 15, 2016
Submission Date
October 15, 2015
Acceptance Date
December 15, 2015
Published in Issue
Year 2015 Number: 2015 Özel Sayısı