Research Article
BibTex RIS Cite

Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi

Year 2016, Volume: 4 Issue: 1, 317 - 326, 30.01.2016

Abstract

Bu çalışmada plazma depozisyonu metodu ile üretilmiş amorf Hidrojenlenmiş Karbon (a-C:H) ince filmlerin yasak enerji bant aralıkları, optiksel geçirgenlik spektroskopisi aracılığı ile incelenmiştir. Analizler sonucu, ince film kalınlıklarının ve yasak enerji bant aralığı değerlerinin, film üretiminde kullanılan elektrik güç arttıkça, arttıkları tespit edilmiştir. Elde edilen sonuçlar teorik olarak modellenerek, iyi bilinen bazı renklerde verimli çalışma potansiyeline sahip cihazların üretiminde kullanılabilecek olası güç değerlerinin tahmininde kullanılmıştır.

References

  • Gillon X, Houssiau L., Plasma Sources Sci. Technol., 23, (2014) 045010.
  • Hiratsuka A, Karube I., Electroanalysis, 12, (2000) 695.
  • Shi F F., Surf. Coatings Technol., 82, (1996) 15.
  • Biederman H, Slavı́nská D., Surf. Coatings Technol., 125, (2000) 371.
  • Robertson J., Mater. Sci. Eng. R Reports, 37, (2002) 129.
  • Angus J, Koidl P, Domitz S., Carbon thin films Plasma Deposited Thin Films vol 17, Boca Raton FL: CRC Press (1986).
  • Tsai H., Mater. Sci. Forum, 52-53, (1990) 71.
  • Vora H., J. Appl. Phys., 52, (1981) 6151.
  • Kim H T, Sohn S H., Vacuum, 86, (2012) 2148.
  • Dearnaley G, Arps J H., Surf. Coatings Technol., 200 , (2005) 2518.
  • Jariwala B N, Ciobanu C V., Agarwal S, J. Appl. Phys., 106, . (2009) 073305.
  • Robertson J., Thin Solid Films, 383, (2001) 81.
  • Casiraghi C, Ferrari A C, Robertson J, et al, Diam. Relat. Mater., 13, (2004) 1480.
  • Casiraghi C, Ferrari A C, Ohr R, et al, Diam. Relat. Mater., 13, (2004) 1416.
  • Narayan R J., Mater. Sci. Eng. C., 25, (2005) 405.
  • Wang Y, Yin Z., Plasma Sci. Technol., 16, (2014) 255.
  • Xu J, Huang X, Li W, et al., Appl. Phys. Lett., 79, (2001) 141.
  • Geis M W, Efremow N N, Krohn K E, et al., Nature, 393, (1998) 431.
  • Pankove J., Optical Processes in Semiconductors, 2. Baskı, Englewood Cliffs, NJ: Prencite-Hall Yayıncılık (1971).

Optical Investigation of Forbidden Energy Band Gap of Amorphous Hydrogenated Carbon Thin Films

Year 2016, Volume: 4 Issue: 1, 317 - 326, 30.01.2016

Abstract

In this study, forbidden band gap values of amorphous hydrogenated carbon (a-C:H) thin films produced by plasma deposition method were investigated by means of optical transmission spectroscopy. As a result of the analysis, it was revealed that the electrical power used in producing thin films was increased, film thickness values and forbidden energy band gap values also increased. The results were modelled theoretically. By using this model, possible production power values to produce the devices having potential to work at some wellknown colors were estimated.

References

  • Gillon X, Houssiau L., Plasma Sources Sci. Technol., 23, (2014) 045010.
  • Hiratsuka A, Karube I., Electroanalysis, 12, (2000) 695.
  • Shi F F., Surf. Coatings Technol., 82, (1996) 15.
  • Biederman H, Slavı́nská D., Surf. Coatings Technol., 125, (2000) 371.
  • Robertson J., Mater. Sci. Eng. R Reports, 37, (2002) 129.
  • Angus J, Koidl P, Domitz S., Carbon thin films Plasma Deposited Thin Films vol 17, Boca Raton FL: CRC Press (1986).
  • Tsai H., Mater. Sci. Forum, 52-53, (1990) 71.
  • Vora H., J. Appl. Phys., 52, (1981) 6151.
  • Kim H T, Sohn S H., Vacuum, 86, (2012) 2148.
  • Dearnaley G, Arps J H., Surf. Coatings Technol., 200 , (2005) 2518.
  • Jariwala B N, Ciobanu C V., Agarwal S, J. Appl. Phys., 106, . (2009) 073305.
  • Robertson J., Thin Solid Films, 383, (2001) 81.
  • Casiraghi C, Ferrari A C, Robertson J, et al, Diam. Relat. Mater., 13, (2004) 1480.
  • Casiraghi C, Ferrari A C, Ohr R, et al, Diam. Relat. Mater., 13, (2004) 1416.
  • Narayan R J., Mater. Sci. Eng. C., 25, (2005) 405.
  • Wang Y, Yin Z., Plasma Sci. Technol., 16, (2014) 255.
  • Xu J, Huang X, Li W, et al., Appl. Phys. Lett., 79, (2001) 141.
  • Geis M W, Efremow N N, Krohn K E, et al., Nature, 393, (1998) 431.
  • Pankove J., Optical Processes in Semiconductors, 2. Baskı, Englewood Cliffs, NJ: Prencite-Hall Yayıncılık (1971).
There are 19 citations in total.

Details

Primary Language Turkish
Subjects Engineering
Journal Section Articles
Authors

Hayrettin Kızılçaoğlu

Kadir Gökşen

Yavuz Köysal This is me

Publication Date January 30, 2016
Published in Issue Year 2016 Volume: 4 Issue: 1

Cite

APA Kızılçaoğlu, H., Gökşen, K., & Köysal, Y. (2016). Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi. Düzce Üniversitesi Bilim Ve Teknoloji Dergisi, 4(1), 317-326.
AMA Kızılçaoğlu H, Gökşen K, Köysal Y. Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi. DUBİTED. January 2016;4(1):317-326.
Chicago Kızılçaoğlu, Hayrettin, Kadir Gökşen, and Yavuz Köysal. “Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi”. Düzce Üniversitesi Bilim Ve Teknoloji Dergisi 4, no. 1 (January 2016): 317-26.
EndNote Kızılçaoğlu H, Gökşen K, Köysal Y (January 1, 2016) Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi. Düzce Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Dergisi 4 1 317–326.
IEEE H. Kızılçaoğlu, K. Gökşen, and Y. Köysal, “Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi”, DUBİTED, vol. 4, no. 1, pp. 317–326, 2016.
ISNAD Kızılçaoğlu, Hayrettin et al. “Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi”. Düzce Üniversitesi Bilim ve Teknoloji Dergisi 4/1 (January 2016), 317-326.
JAMA Kızılçaoğlu H, Gökşen K, Köysal Y. Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi. DUBİTED. 2016;4:317–326.
MLA Kızılçaoğlu, Hayrettin et al. “Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi”. Düzce Üniversitesi Bilim Ve Teknoloji Dergisi, vol. 4, no. 1, 2016, pp. 317-26.
Vancouver Kızılçaoğlu H, Gökşen K, Köysal Y. Amorf Hidrojenlenmiş Karbon İnce Filmlerin Yasak Enerji Bant Aralıklarının Optiksel İncelenmesi. DUBİTED. 2016;4(1):317-26.