The series resistance and the interface state density properties of a Cr/n–Si Schottky barrier diode prepared by pulsed DC sputtering

Year 2013, Volume: 2 Issue: 1, 9 - 15, 01.06.2013

Ahmet Tombak Yusuf Selim Ocak Tahsin Kılıçoğlu

Abstract

A Cr/n–Si Schottky barrier diode was obtained by pulsed DC sputtering technique. The electrical parametersof the diode such as ideality factor, barrier height and series resistance values were determined using thefunctions proposed by Cheung and Norde. It was seen that the diode has an ideality factor of 1.07 and abarrier height of 0.60 eV. The interface state density distribution of the diode was calculated using thecurrent–voltage I–V data. In addition, the capacitance–voltage C–V and the capacitance–frequency C–f characteristics of the diode were analyzed

Keywords

Pulsed DC sputtering, Schottky diode, Series resistance, Interface state density, Barrier height

Atmalı DC saçtırma ile hazırlanan Cr/n-Si Schottky engel diyotunun seri direnç ve arayüzey durum yoğunluğu özellikleri

Abstract

Atmalı DC saçtırma yöntemi ile bir Cr/n–Si Schottky engel diyotu elde edildi. Diyota ait idealite faktörü,engel yüksekliği ve seri direnç gibi elektriksel parametreler Cheung ve Norde tarafından önerilen fonksiyonlarla belirlendi. Diyotun 1,07 idealite faktörü ve 0,60 eV engel yüksekliğine sahip olduğu görüldü.Diyotun arayüzey durum yoğunluk dağılımı akım–gerilim I–V verileri kullanılarak hesaplandı. Ayrıca,diyotun kapasite–gerilim C–V ve kapasite–frekans C–f özellikleri analiz edildi

Keywords

Atmalı DC saçtırma, Schottky diyot, Seri direnç, Arayüzey durum yoğunluğu, Engelyüksekliği

References

• 1. A. Maestrini, B. Thomas, H. Wang, C. Jung, J. Treuttel, Y.Jin, G. Chattopadhyay, I. Mehdi, G. Beaudin, C. R. Physique 11 (2010) 480–495.
• 2. M.K. Hudait, K.P. Venkateswarlu, S.B. Krupanidhi, Solid State Electron 45 (2001) 133-141.
• 3. M. Soylu, F. Yakuphanoglu, Thin Solid Films 519 (2011) 1950–1954.
• 4. S. Asubay, O. Gullu, A. Turut, Vacuum 83 (2009) 1470–1474.
• 5. E.H. Rhoderick, R.H.Williams, Metal– Semiconductor Contacts, Oxford, Clerendon, 1988.
• 6. W. Mönch, J. Vac. Sci. Technol. B 17 (1999) 1867- 1876.
• 7. S. Chand, S. Bala, Phys B 390 (2007) 179-184.
• 8. C. Nuhoglu, Y. Gulen, Vacuum 84 (2010) 812–816.
• 9. S. Karatas, A. Turut, Physica B 381 (2006) 199–203.
• 10. S. Alt›ndal, I. Yucedag, A. Tataroglu, Vacuum 84 (2010) 363–368.
• 11. B. Sahin, H. Cetin, E. Ayyildiz, Solid State Commun. 135 (2005) 490–495. 12. O Pakma, N Serin, T Serin, S Alt›ndal, Semicond. Sci. Technol. 23 (2008) 105014-105022.
• 13. G. Guler, Ö. Gullu, Ö.F. Bakkaloglu, A. Turut, Physica B 403 (2008) 2211–2214.
• 14. Y.S. Ocak, M.F. Genisel, T. Kilicoglu, Microelectron. Eng. 87 (2010) 2338–2342.
• 15. B. Tatar, A.E. Bulgurcuo¤lu, P. Gökdemir, P. Aydogan, D. Y›lmazer, O. Özdemir, K. Kutlu, Int. J. Hydrogen Energy 34 (2009) 5208–5212.
• 16. W.T. Yen, Y.C. Lin, P.C. Yao, J.H. Ke, Y.L. Chen, Appl. Surf. Sci 256 (2010) 3432–3437.
• 17. Y.C. Lin, J.Y. Li, W.T. Yen, Appl. Surf. Sci. 254 (2008) 3262-3268.
• 18. S.K. Cheung, N.W. Cheung, Appl. Phys. Lett. 49 (1986) 85-87.
• 19. H. Norde, J. Appl. Phys. 50 (1979) 5052-5053.
• 20. O. Pakma, N.Serin, T.Serin, S. Alt›ndal, Physica B 406 (2011) 771–776.
• 21. H.C. Card, E.H. Rhoderick, J. Phys. D 4 (1971) 1589-1601.
• 22. M.K. Hudait, S.B. Kruppanidhi, Solid State Electron 44 (2000) 1089-1097.
• 23. E.H. Nicollian, J.R. Brews, MOS (Metal–Oxide– Semiconductor) Physics and Technology, Wiley, New York, 1982.
• 24. A. Turut, N. Yalcin, M. Saglam, Solid State Electron 35 (1992) 835.
• 25. S. Aydogan, U. Incekara, A.R. Deniz, A. Turut, Microelectronic Engineering 87 (2010) 2525-2530.
• 26. B. Akkal, Z. Benamara, B. Gruzza, L. Bideux, Vacuum 57 (2000) 219-228.
• 27. M.Okutan, E. Basaran, F. Yakuphanoglu, Appl. Surf. Sci. 252 (2005) 1966–1973.
• 28. S. Aydo¤an, U. Incekara, A. Turut, Thin Solid Films 518 (2010) 7156–7160.