Sleep staging is a laborious and time consuming process performed by sleep specialists in sleep laboratories. Patient's sleeping process is analyzed after this process. These evidences give direction to the treatment process for many diseases that are described as sleep disorders in the literature. Automatic sleep staging systems are computer aided systems designed to make these operations more reliable and faster. The decision making mechanisms of these systems are based on signal processing and classification. For this reason, working with artefact-free signals is of great importance for increasing the classification accuracy. This study aims to eliminate the negative effects of Electrooculography (EOG) artifacts on sleep Electroencephalography (EEG) signals. The proposed artefact elimination process has been performed using the Singular Value Decomposition method and this method is very useful for online sleep staging systems.
Uyku evreleme işlemi, uyku laboratuvarlarında uyku uzmanları tarafından yapılan zahmetli ve zaman alan bir işlemdir. Bu işlem sonucunda hastanın uyku süreci analiz edilir. Elde edilen bu bulgular literatürde uyku bozuklukları olarak tanımlanmış pek çok hastalık için tedavi sürecine yön verir. Otomatik uyku evreleme sistemleri, bu işlemlerin daha güvenilir ve daha hızlı olarak yapılması için tasarlanmış bilgisayar destekli sistemlerdir. Bu sistemlerin karar verme mekanizmaları sinyal işleme ve sınıflandırma temellidir. Bu sebeple artefaktsız sinyaller ile çalışmak sınıflama doğruluğunu artırmak için büyük önem arz etmektedir. Çalışma Elektrookülogram (EOG) artefaktlarının uyku Elektroensefalografi (EEG) sinyalleri üzerindeki negatif etkilerini elemine etmeyi amaçlamaktadır. Sunulan artefakt eleme işlemi Tekil Değer Ayrışımı yöntemi kullanılarak yapılmış olup online uyku evreleme sistemleri için oldukça kullanışlıdır.
| Primary Language | English |
|---|---|
| Subjects | Engineering Practice |
| Journal Section | Research Article |
| Authors | |
| Submission Date | October 18, 2025 |
| Acceptance Date | January 19, 2026 |
| Publication Date | January 31, 2026 |
| Published in Issue | Year 2026 Volume: 13 Issue: 1 |
