Research Article
BibTex RIS Cite
Year 2016, Volume: 3 Issue: 3, 0 - 0, 30.09.2016
https://doi.org/10.31202/ecjse.258574

Abstract

References

  • [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
  • [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
  • [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
  • [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.

NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı

Year 2016, Volume: 3 Issue: 3, 0 - 0, 30.09.2016
https://doi.org/10.31202/ecjse.258574

Abstract

Bu çalışmanın amacı; analog elektronik eğitimi için National Instruments (NI) ELVIS platformuna uygun, Multisim ve LabVIEW ile tümleşik deney kartları tasarlanmasıdır. Geleneksel olarak, analog elektronik eğitiminde üç farklı araç kullanılmaktadır: Ders kitapları, simülasyon ve laboratuvar deneyleri. Bu araçlar arasında yeterli bağlantı olmadığı zaman, öğrenciler derslerden laboratuvar deneylerine ya da teoriden uygulamaya geçişte zorlanmaktadır. Bu çalışmada, NI ELVIS platformu için tasarlanan 5 (beş) adet analog elektronik deney kartı anlatılmaktadır. Bu kartlar üzerinde gerçekleştirilen bütün deneylerde; öncelikle NI Multisim ortamında deney kartlarında kullanılan gerçek komponentlerin modelleri kullanılarak simülasyonlar yapılmakta, sonrasında yine NI Multisim ortamında NI ELVIS platformu kullanılarak gerçek devreler üzerinde ölçümler yapılmaktadır. Bu sayede, NI Multisim ortamında gerçekleştirilen simülasyon sonuçları ile NI ELVIS üzerine takılan deney kartlarında yapılan ölçümlerin aynı ortamda doğrudan karşılaştırılması ve teori ile deneysel sonuçların bütünleştirilmesi sağlanmaktadır.

References

  • [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
  • [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
  • [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
  • [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.
There are 4 citations in total.

Details

Primary Language Turkish
Subjects Engineering
Journal Section UMAS 2015 Ulusal Mühendislik Araştırmaları Sempozyumu Seçilen Articles
Authors

Ünsal Kocatepe

Publication Date September 30, 2016
Submission Date November 14, 2015
Published in Issue Year 2016 Volume: 3 Issue: 3

Cite

IEEE Ü. Kocatepe, “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”, El-Cezeri Journal of Science and Engineering, vol. 3, no. 3, 2016, doi: 10.31202/ecjse.258574.
Creative Commons License El-Cezeri is licensed to the public under a Creative Commons Attribution 4.0 license.
88x31.png