Bu çalışmada hem sodyum sülfit kullanılarak hem de sodyum sülfit kullanılmadan kimyasal banyo depolama metodu ile PbS ince filmleri üretilmiştir. Üretilen filmler 400 °C’de tavlanmıştır. Tavlanan PbS ince filmlerin karakterizasyonu taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve X-ışını kırınımı (XRD) yöntemleri kullanılarak gerçekleştirilmiştir. XRD verilerinden, tavladıktan sonra pik şiddetlerinin arttığı gözlenmiştir. Tavlama ile filmlerin yüzey yapılarının tamamen değiştiği ve deliklerin kaybolduğu gözlenmiştir.
Primary Language | Turkish |
---|---|
Journal Section | MBD |
Authors | |
Publication Date | September 24, 2020 |
Submission Date | May 23, 2019 |
Published in Issue | Year 2020 Volume: 32 Issue: 2 |