Bu çalışmada hem sodyum sülfit kullanılarak hem de sodyum sülfit kullanılmadan kimyasal banyo depolama metodu ile PbS ince filmleri üretilmiştir. Üretilen filmler 400 °C’de tavlanmıştır. Tavlanan PbS ince filmlerin karakterizasyonu taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve X-ışını kırınımı (XRD) yöntemleri kullanılarak gerçekleştirilmiştir. XRD verilerinden, tavladıktan sonra pik şiddetlerinin arttığı gözlenmiştir. Tavlama ile filmlerin yüzey yapılarının tamamen değiştiği ve deliklerin kaybolduğu gözlenmiştir.
Birincil Dil | Türkçe |
---|---|
Bölüm | MBD |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 24 Eylül 2020 |
Gönderilme Tarihi | 23 Mayıs 2019 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2020 Cilt: 32 Sayı: 2 |