Year 2019, Volume 7 , Issue 1, Pages 165 - 174 2019-03-24

Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı

Salim ÇINAR [1]


Lojik devre laboratuvarı Elektrik-Elektronik Mühendisliği bölümü için önemli laboratuvarlardan bir tanesidir. Entegreler deneyler sırasında doğru bir şekilde çalışmalıdır. Entegre devrelerin düzgün çalışıp çalışmadığını test etmek için bir devre kurmak zor ve zaman alıcıdır. Bu çalışmada, entegre test cihazı entegre devrelerin hızlı ve doğru bir şekilde test edilmesi için tasarlanmıştır. Entegre test cihazını kullanmak kolay ve basittir. Entegreleri zif-sokete takmak yeterlidir. Test devresi, entegrelerin düzgün çalışıp çalışmadığını LCD ekranda göstermektedir. Entegre test cihazının prototipi üretilerek Lojik devre laboratuvarında kullanılmıştır. Laboratuvar personelinin deneme ve yorumları, entegre test devresinin laboratuvarlarda güvenle kullanılabileceğini göstermektedir.
Tasarım, Entegre test devresi, Mikrodenetleyici
  • [1] A. Akgül, M. K. Uçar, M. M. Öztürk, ve Z. Ekşi̇, “Mühendislik Eğitiminin İyileştirilmesine Yönelik Öneriler, Geleceğin Mühendisleri ve İşgücü Analizi”, Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilim. Enstitüsü Derg., c. 17, sy 1, 2013.
  • [2] E. Can, “Laboratuvar Çalışmalarının Bilgisayar Mühendisliği Eğitimindeki Yeri ve Önemi”, Elektr. MÜHENDİSLİĞİ, sy 430, ss. 94-96, 2007.
  • [3] C. S. Lee, J. H. Su, K. E. Lin, J. H. Chang, ve G. H. Lin, “A Project-Based Laboratory for Learning Embedded System Design With Industry Support”, IEEE Trans. Educ., c. 53, sy 2, ss. 173-181, May. 2010.
  • [4] L. A. Ajao, J. Agajo, J. G. Kolo, M. A. Adegboye, ve Y. Yusuf, “Learning of Embedded System Design, Simulation and Implementation: A Technical Approach”, Am. J. Embed. Syst. Appl., c. 3, sy 3, s. 35, May. 2016.
  • [5] M. Özcan ve H. Günay, “Mikrodenetleyici geliştirme seti tasarım ve uygulamaları”, Design and applications development kit microcontroller, 2009.
  • [6] “PIC18F452 - Microcontrollers and Processors - Microcontrollers and Processors”, 23-Tem-2018. [Çevrimiçi]. Erişim adresi: https://www.microchip.com/wwwproducts/en/PIC18F452. [Erişim: 23-Tem-2018].
  • [7] “KiCad EDA”. [Çevrimiçi]. Erişim adresi: http://kicad-pcb.org/. [Erişim: 25-Tem-2018].
  • [8] “MPLAB- X IDE | Microchip Technology”. [Çevrimiçi]. Erişim adresi: http://www.microchip.com/mplab/mplab-x-ide. [Erişim: 26-Tem-2018].
Primary Language tr
Subjects Engineering
Journal Section Tasarım ve Teknoloji
Authors

Orcid: 0000-0002-3653-6291
Author: Salim ÇINAR (Primary Author)
Institution: NİĞDE ÖMER HALİSDEMİR ÜNİVERSİTESİ, MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ
Country: Turkey


Dates

Publication Date : March 24, 2019

Bibtex @research article { gujsc449163, journal = {Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji}, issn = {}, eissn = {2147-9526}, address = {}, publisher = {Gazi University}, year = {2019}, volume = {7}, pages = {165 - 174}, doi = {10.29109/gujsc.449163}, title = {Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı}, key = {cite}, author = {Çınar, Salim} }
APA Çınar, S . (2019). Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı . Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji , 7 (1) , 165-174 . DOI: 10.29109/gujsc.449163
MLA Çınar, S . "Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı" . Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji 7 (2019 ): 165-174 <https://dergipark.org.tr/en/pub/gujsc/issue/43584/449163>
Chicago Çınar, S . "Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı". Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji 7 (2019 ): 165-174
RIS TY - JOUR T1 - Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı AU - Salim Çınar Y1 - 2019 PY - 2019 N1 - doi: 10.29109/gujsc.449163 DO - 10.29109/gujsc.449163 T2 - Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji JF - Journal JO - JOR SP - 165 EP - 174 VL - 7 IS - 1 SN - -2147-9526 M3 - doi: 10.29109/gujsc.449163 UR - https://doi.org/10.29109/gujsc.449163 Y2 - 2019 ER -
EndNote %0 Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı %A Salim Çınar %T Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı %D 2019 %J Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji %P -2147-9526 %V 7 %N 1 %R doi: 10.29109/gujsc.449163 %U 10.29109/gujsc.449163
ISNAD Çınar, Salim . "Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı". Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji 7 / 1 (March 2019): 165-174 . https://doi.org/10.29109/gujsc.449163
AMA Çınar S . Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı. GUJS Part C. 2019; 7(1): 165-174.
Vancouver Çınar S . Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı. Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji. 2019; 7(1): 165-174.