Research Article

Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu

Volume: 9 Number: 1 March 1, 2019
EN TR

Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu

Abstract


Bu çalışmada organik yarıiletken özellik gösteren pentacene malzemesi kullanılarak elde edilen doğrultucu kontakların elektriksel özellikleri incelendi. İlk olarak n-Si bir yüzeyine termal buharlaştırma yöntemi ile Al metali kaplandı ve 450 °C de 10 dakika tavlanarak omik kontak elde edildi. Daha sonra termal buharlaştırma yöntemi ile n-Si yarıiletkeninin diğer yüzeyine Pentacene organik filmi kaplandı. Son olarak elektriksel ölçümler için DC saçtırma yöntemi ile Pentacene üzerine Ni kaplanarak daire şeklinde sekiz farklı kontak elde edildi. Ni/Pentacene/n-Si/Al heteroeklem aygıtlarının oda sıcaklığında ve karanlıkta I-V (Akım Voltaj) ölçümleri yapıldı. TE teorisi kullanılarak yapılan hesaplamalardan elde edilen aygıtların benzer karakteristik özelliklere sahip olduğu görülmüştür. D1 numaralı Ni/Pentacene/n-Si/Al heteroeklem aygıtı 0.83 eV engel yüksekliği ve 1.41 idealite faktörü ile Schottky davranış göstermiştir. Ayrıca Cheung ve Norde fonksiyonları gibi farklı metotlar kullanılarak engel yüksekliği ve idealite faktörü ile beraber D1 numaralı Ni/Pentacene/n-Si/Al heteroeklem aygıtının seri direnç değerleri de (Rs) hesaplanmıştır.

Keywords

References

  1. Alahmed ZA, Mansou SA, Aydın ME, Yakuphanoglu F, 2013. Hybrid photodiodesbasedon6,13-bis(triisopropylsilylethynyl) pentacene:poly[2-methoxy-5-(2ethyl)hexoxy-phenylenevinylene]/p silicon. Solid State Communications, 163:23-27.
  2. Asubay S, Genisel MF, Ocak YS, 2014. Electrical parameters of a DC sputtered Mo/n-type 6H-SiC Schottky barrier diode. Materials Science in Semiconductor Processing, 28, 94–97.
  3. Aydoğan Ş, İncekara Ü, Türüt A, 2010. Determination of contact parameters of Au/Carmine/n-Si Schottky device. Thin Solid Films, 518:7156–7160.
  4. Aydoğan S, Sağlam M, Türüt A, 2008. Reverse bias capacitance–voltage characteristics of Al/polyaniline/p-Si/Al structure as a function of temperature. Journal of Non-Crystalline Solids, 354: 4991–4995.
  5. Brutscher N, Hoheise M, 1988.Schottky diodes with high series resistance: A simple method of determining the barrier heights. Solid-State Electronics, 31:87-89.
  6. Çaldıran Z, 2013b. Au/Antrakinon/p-Si/Al Schottky Diyodun Temel Karakteristik Parametrelerinin Sicakliğa Bağli I-V (Akim-Voltaj) ve C-V (Kapasite-Voltaj) Ölçümlerinden Tayin Edilmesi. Atatürk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi (Basılmış).
  7. Çaldıran Z, Aydoğan Ş, Yesildag A, Ekinci D, Kurudirek SV, Türüt A, 2015. Temperature-dependentcurrent–voltagemeasurements of Au/C9H7N/p-Si:Characterization of ametal–organic-semiconductordevice. Materials Science in Semiconductor Processing, 34:58–64.
  8. Çaldıran Z, Deniz A.R, Aydoğan Ş, Yesildağ A, Ekinci D, 2013a.The barrier height enhancement of the Au/n-Si/Al Schottky barrier diode by electrochemically formed an organic Anthracene layer on n Si. Superlattices and Microstructures, 56:45–54.

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

Metrology, Applied and Industrial Physics

Journal Section

Research Article

Authors

Publication Date

March 1, 2019

Submission Date

August 13, 2018

Acceptance Date

October 5, 2018

Published in Issue

Year 2019 Volume: 9 Number: 1

APA
Çaldıran, Z. (2019). Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu. Journal of the Institute of Science and Technology, 9(1), 581-592. https://doi.org/10.21597/jist.453048
AMA
1.Çaldıran Z. Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu. J. Inst. Sci. and Tech. 2019;9(1):581-592. doi:10.21597/jist.453048
Chicago
Çaldıran, Zakir. 2019. “Pentacene/N-Si/Heteroeklem/Aygıtlarının/Yapımı/Ve/Karakterizasyonu”. Journal of the Institute of Science and Technology 9 (1): 581-92. https://doi.org/10.21597/jist.453048.
EndNote
Çaldıran Z (March 1, 2019) Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu. Journal of the Institute of Science and Technology 9 1 581–592.
IEEE
[1]Z. Çaldıran, “Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu”, J. Inst. Sci. and Tech., vol. 9, no. 1, pp. 581–592, Mar. 2019, doi: 10.21597/jist.453048.
ISNAD
Çaldıran, Zakir. “Pentacene/N-Si/Heteroeklem/Aygıtlarının/Yapımı/Ve/Karakterizasyonu”. Journal of the Institute of Science and Technology 9/1 (March 1, 2019): 581-592. https://doi.org/10.21597/jist.453048.
JAMA
1.Çaldıran Z. Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu. J. Inst. Sci. and Tech. 2019;9:581–592.
MLA
Çaldıran, Zakir. “Pentacene/N-Si/Heteroeklem/Aygıtlarının/Yapımı/Ve/Karakterizasyonu”. Journal of the Institute of Science and Technology, vol. 9, no. 1, Mar. 2019, pp. 581-92, doi:10.21597/jist.453048.
Vancouver
1.Zakir Çaldıran. Pentacene/n-Si Heteroeklem Aygıtlarının Yapımı ve Karakterizasyonu. J. Inst. Sci. and Tech. 2019 Mar. 1;9(1):581-92. doi:10.21597/jist.453048

Cited By