Armut ülkemizde iç pazar tüketiminin yanında ihracatı da yapılan önemli bir meyvedir. Ürünlerin depoya alınmalarından sonra muhafaza süresi içerisinde ürünlerde özellikle latent enfeksiyon kaynaklı fungal gelişimlerin gözlemlenmesi mümkündür. Hastalık gelişimi için uygun olan muhafaza şartlarında ürünlerde ticari kayba neden olan çürümeler ve deformasyonlar meydana gelebilmektedir. Bunları önlemek için hastalıklı meyvelerin depo koşullarında tespit edilerek izole edilmesi oldukça önemlidir. Bu çalışmada Diplocarpon mespili enfeksiyonu görülen armut meyvelerinin depo koşullarında sağlıklı meyvelere hastalık taşımasının ve inokulum kaynağı olmasının önüne geçilmesi için görüntü işleme yöntemleri ve destek vektör makinesi kullanılarak bir leke analiz algoritması geliştirilmiştir. Geliştirilen yöntem ile armut meyvesinin yüzeyinde gelişimine devam eden ve lezyon çapı gelişen aktif alanların pasif leke alanlarına göre daha yüksek bir doğrulukla saptanabildiği tespit edilmiştir.
| Primary Language | Turkish |
|---|---|
| Authors | |
| Submission Date | January 12, 2016 |
| Publication Date | January 14, 2016 |
| IZ | https://izlik.org/JA94GB23NM |
| Published in Issue | Year 2016 Volume: 13 Issue: 1 |