En çok olabilirlik kestirimi kullanılan lojistik regresyon yaygın kullanım alanlarına sahiptir. Lojistik regresyon genellikle, medikal alanlarda yaşam olasılığı modelleme ve hastalık ve travmadaki risk faktörlerinin değerlendirme gibi alanlarda kullanılır. Lojistik regresyonda bağımsız değişkenler arasındaki lineer iç ilişki en çok olabilirlik kestiricisinin (MLE) varyansını büyük oranda etkiler. Bu çalışmada MLE’ ne alternatif olarak başka kestiriciler önerildi. Belirli koşullar altında Ridge (Smidt&McDonald,1976) kestiricisi, Stein (Stein,1960) kestiricisinin toplam hata kareler ortalamalarının dolayısıyla varyanslarının en çok olabilirlik kestiricisininkinden (MLE) daha küçük olduğu biliniyor. Buna benzer olarak, Ridge ve Stein kestiricilerinin konveks bileşimi olan Liu (Liu,1993) kestiricisinin lojistik regresyondaki toplam hata kareler ortalamasının da MLE kestiricisininkinden daha küçük olabileceği üzerinde çalışılmaktadır
Lojistik regresyon En çok olabilirlik kestiricisi(MLE) Yinelemeli ağırlıklandırılmış en küçük kareler(IWLS) Ridge kestirimi Stein kestirimi Liu kestirimi lineer iç ilişki
Logistic regression using maximum likelihood
estimation has recently gained widespread use. Many of these applications have
been in situations in which the independent variables are collinear. The collinearity
among the independent variables seriously effects the variance of the maximum
likelihood estimation. In this study, several alterative estimators are
suggested, which are combat the collinearity and easy to obtain in practice. It
has been known that under some situations of the Ridge estimator and Stein
estimator are less affected by the variance of the MLE. Similarly, we are
studying on Liu estimator which is the convex combining of them in logistic
regression.
Logistic regression Maximum Likelihood Estimation (MLE) Iterative weighted least squares (IWLS) Ridge regression Stein regression Liu regression collinearity.
Primary Language | Turkish |
---|---|
Subjects | Engineering |
Journal Section | Articles |
Authors | |
Publication Date | March 1, 2008 |
Published in Issue | Year 2008 Volume: 1 Issue: 1 |