Research Article

Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi

Volume: 14 Number: 1 June 27, 2026
TR EN

Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi

Abstract

Baskı Devre Kartı (Printed Circuit Board-PCB) kusurlarının tespiti, üretim verimliliği ve kalite kontrol açısından kritik öneme sahiptir. Bu çalışmada, PCB kusur tespiti için derin öğrenme tabanlı nesne algılama mimarileri YOLOv10 ve YOLOv11 karşılaştırılmıştır. Analizlerde her iki mimarinin Nano, Small ve Medium varyasyonları kullanılmış, performansları SGD ve Adamax optimizasyon algoritmalarıyla değerlendirilmiştir. Deneyler, altı kusur kategorisi içeren ve 10.668 görüntüden oluşan PKU-Market-PCB veri kümesi üzerinde gerçekleştirilmiştir. Sonuçlar, SGD ile eğitilen YOLOv10-Medium modelinin %70.30 mAP@50:95 değeriyle en yüksek doğruluğu sağladığını göstermiştir. Ancak bu model daha yüksek hesaplama maliyetine sahiptir. Doğruluk ve hesaplama verimliliği birlikte değerlendirildiğinde, Small ölçekli modellerin endüstriyel uygulamalar için daha dengeli bir çözüm sunduğu belirlenmiştir. Ayrıca YOLOv10’un YOLOv11’e göre ortalama %1.53, SGD’nin ise Adamax’a göre ortalama %5.33 daha yüksek performans sağladığı tespit edilmiştir. Gerçekleştirilen deneyler doğrultusunda, PCB kusur tespiti için uygun model-optimizasyon kombinasyonunun belirlenmesini amaçlamaktadır.

Keywords

References

  1. Saberironaghi A., Ren J., El-Gindy M., Defect detection methods for industrial products using deep learning techniques: A review, Algorithms, 16(2), 2023, p.95.
  2. Zheng X., Zheng S., Kong Y. ve Chen J. Recent advances in surface defect inspection of industrial products using deep learning techniques, The International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 113(1), p. 35-58, 2021.
  3. Chaudhary V., Dave I. R., Upla K. P., Automatic visual inspection of printed circuit board for defect detection and classification, 2017 International Conference on Wireless Communications, 2017.
  4. Khanam R., Hussain M., Hill R., Allen P., A comprehensive review of convolutional neural networks for defect detection in industrial applications, IEEE Access, 2024.
  5. Qi S., Yang J., Zhong Z., A review on industrial surface defect detection based on deep learning technology, 2020 3rd International Conference on Machine Learning and Machine Intelligence, p.24-30,2020.
  6. Chen X., Wu Y., He X., Ming W., A comprehensive review of deep learning-based PCB defect detection, IEEE Access, 11, p.139017-139038 2023.
  7. Du B., Wan F., Lei G., Xu L., Xu C., Xiong Y., YOLO-MBBi: PCB surface defect detection method based on enhanced YOLOv5, Electronics, 12(13), p.2821, 2023.
  8. Xiao G., Hou S., Zhou H., PCB defect detection algorithm based on CDI-YOLO, Scientific Reports, 14(1), p.7351. 2024.

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

Software Engineering (Other)

Journal Section

Research Article

Early Pub Date

June 24, 2026

Publication Date

June 27, 2026

Submission Date

March 13, 2026

Acceptance Date

June 16, 2026

Published in Issue

Year 2026 Volume: 14 Number: 1

APA
Kezer, Z., & Altunbey Özbay, F. (2026). Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi. Mus Alparslan University Journal of Science, 14(1), 162-172. https://doi.org/10.18586/msufbd.1908942
AMA
1.Kezer Z, Altunbey Özbay F. Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi. Mus Alparslan University Journal of Science. 2026;14(1):162-172. doi:10.18586/msufbd.1908942
Chicago
Kezer, Züleyha, and Feyza Altunbey Özbay. 2026. “Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti Için YOLOv10 Ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi”. Mus Alparslan University Journal of Science 14 (1): 162-72. https://doi.org/10.18586/msufbd.1908942.
EndNote
Kezer Z, Altunbey Özbay F (June 1, 2026) Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi. Mus Alparslan University Journal of Science 14 1 162–172.
IEEE
[1]Z. Kezer and F. Altunbey Özbay, “Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi”, Mus Alparslan University Journal of Science, vol. 14, no. 1, pp. 162–172, June 2026, doi: 10.18586/msufbd.1908942.
ISNAD
Kezer, Züleyha - Altunbey Özbay, Feyza. “Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti Için YOLOv10 Ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi”. Mus Alparslan University Journal of Science 14/1 (June 1, 2026): 162-172. https://doi.org/10.18586/msufbd.1908942.
JAMA
1.Kezer Z, Altunbey Özbay F. Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi. Mus Alparslan University Journal of Science. 2026;14:162–172.
MLA
Kezer, Züleyha, and Feyza Altunbey Özbay. “Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti Için YOLOv10 Ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi”. Mus Alparslan University Journal of Science, vol. 14, no. 1, June 2026, pp. 162-7, doi:10.18586/msufbd.1908942.
Vancouver
1.Züleyha Kezer, Feyza Altunbey Özbay. Baskı Devre Kartı Kusur Tespiti için YOLOv10 ve YOLOv11 Mimarilerinin Karşılaştırmalı Analizi. Mus Alparslan University Journal of Science. 2026 Jun. 1;14(1):162-7. doi:10.18586/msufbd.1908942