EN
TR
Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy
Abstract
Osiloskoplar; dalga ?ekillerini görsel olarak ifade ettiklerinden dolayy test i?lemleri, hata tespiti ve sorun giderme gibi çaly?ma alanlary için çok iyi bir ölçüm aracydyr. Ayryca osiloskoplar, elektronik devrelerin tasarymy ve kontrolleri syrasynda tasarymcylara destek sa?larlar. Osiloskoplar, elektrik i?aretlerine ek olarak, uygun bir dönü?türücü olarak geli?tirilmi? farkly türdeki problaryn kullanymy ile sycaklyk, basynç, nem gibi farkly fiziksel veya kimyasal büyüklükleri de ölçebilirler. Bu çaly?mada, bir sinyal i?leme uygulamasy olarak analog giri? sinyallerinin grafik likit kristal ekranda (GLCD) görüntülenmesini sa?layan bir sayysal osiloskop tasarymy gerçekle?tirilmi?tir. Çaly?manyn amacy, ölçülen i?aretlerin bir mikrodenetleyici ile i?lenip GLCD aracyly?yyla sinyal ?ekillerinin görüntülenmesini sa?lamaktyr. Tasarymda; ölçülen analog i?aretler, mikrodenetleyici ile 4 kanal 10-bit analog-dijital dönü?türücü kullanylarak 100 Kbps hyzynda örneklenmi?tir. Bu çaly?ma, mikrodenetleyicinin giri?-çyky? portlary üzerinden bilgisayar ileti?imi eklenerek daha da geli?tirilmeye müsaittir.
Keywords
Details
Primary Language
Turkish
Subjects
-
Journal Section
-
Publication Date
February 1, 2011
Submission Date
August 29, 2014
Acceptance Date
-
Published in Issue
Year 2011 Volume: 6 Number: 1
APA
Kabalcı, Y., Develi, İ., & Bilim, M. (2011). Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences, 6(1), 162-169. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019
AMA
1.Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011;6(1):162-169. doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019
Chicago
Kabalcı, Yasin, İbrahim Develi, and Mehmet Bilim. 2011. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences 6 (1): 162-69. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
EndNote
Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M (February 1, 2011) Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences 6 1 162–169.
IEEE
[1]Y. Kabalcı, İ. Develi, and M. Bilim, “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”, Engineering Sciences, vol. 6, no. 1, pp. 162–169, Feb. 2011, doi: 10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
ISNAD
Kabalcı, Yasin - Develi, İbrahim - Bilim, Mehmet. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences 6/1 (February 1, 2011): 162-169. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
JAMA
1.Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011;6:162–169.
MLA
Kabalcı, Yasin, et al. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences, vol. 6, no. 1, Feb. 2011, pp. 162-9, doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
Vancouver
1.Yasin Kabalcı, İbrahim Develi, Mehmet Bilim. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011 Feb. 1;6(1):162-9. doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019