Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy

Cilt: 6 Sayı: 1 1 Şubat 2011
  • Yasin Kabalcı
  • İbrahim Develi
  • Mehmet Bilim
PDF İndir
EN TR

Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy

Öz

Osiloskoplar; dalga ?ekillerini görsel olarak ifade ettiklerinden dolayy test i?lemleri, hata tespiti ve sorun giderme gibi çaly?ma alanlary için çok iyi bir ölçüm aracydyr. Ayryca osiloskoplar, elektronik devrelerin tasarymy ve kontrolleri syrasynda tasarymcylara destek sa?larlar. Osiloskoplar, elektrik i?aretlerine ek olarak, uygun bir dönü?türücü olarak geli?tirilmi? farkly türdeki problaryn kullanymy ile sycaklyk, basynç, nem gibi farkly fiziksel veya kimyasal büyüklükleri de ölçebilirler. Bu çaly?mada, bir sinyal i?leme uygulamasy olarak analog giri? sinyallerinin grafik likit kristal ekranda (GLCD) görüntülenmesini sa?layan bir sayysal osiloskop tasarymy gerçekle?tirilmi?tir. Çaly?manyn amacy, ölçülen i?aretlerin bir mikrodenetleyici ile i?lenip GLCD aracyly?yyla sinyal ?ekillerinin görüntülenmesini sa?lamaktyr. Tasarymda; ölçülen analog i?aretler, mikrodenetleyici ile 4 kanal 10-bit analog-dijital dönü?türücü kullanylarak 100 Kbps hyzynda örneklenmi?tir. Bu çaly?ma, mikrodenetleyicinin giri?-çyky? portlary üzerinden bilgisayar ileti?imi eklenerek daha da geli?tirilmeye müsaittir.

Anahtar Kelimeler

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

-

Bölüm

-

Yazarlar

Yasin Kabalcı Bu kişi benim

İbrahim Develi Bu kişi benim

Mehmet Bilim Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi

1 Şubat 2011

Gönderilme Tarihi

29 Ağustos 2014

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2011 Cilt: 6 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA
Kabalcı, Y., Develi, İ., & Bilim, M. (2011). Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences, 6(1), 162-169. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019
AMA
1.Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011;6(1):162-169. doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019
Chicago
Kabalcı, Yasin, İbrahim Develi, ve Mehmet Bilim. 2011. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences 6 (1): 162-69. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
EndNote
Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M (01 Şubat 2011) Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences 6 1 162–169.
IEEE
[1]Y. Kabalcı, İ. Develi, ve M. Bilim, “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”, Engineering Sciences, c. 6, sy 1, ss. 162–169, Şub. 2011, doi: 10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
ISNAD
Kabalcı, Yasin - Develi, İbrahim - Bilim, Mehmet. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences 6/1 (01 Şubat 2011): 162-169. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
JAMA
1.Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011;6:162–169.
MLA
Kabalcı, Yasin, vd. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences, c. 6, sy 1, Şubat 2011, ss. 162-9, doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
Vancouver
1.Yasin Kabalcı, İbrahim Develi, Mehmet Bilim. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 01 Şubat 2011;6(1):162-9. doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019