EN
TR
Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy
Öz
Osiloskoplar; dalga ?ekillerini görsel olarak ifade ettiklerinden dolayy test i?lemleri, hata tespiti ve sorun giderme gibi çaly?ma alanlary için çok iyi bir ölçüm aracydyr. Ayryca osiloskoplar, elektronik devrelerin tasarymy ve kontrolleri syrasynda tasarymcylara destek sa?larlar. Osiloskoplar, elektrik i?aretlerine ek olarak, uygun bir dönü?türücü olarak geli?tirilmi? farkly türdeki problaryn kullanymy ile sycaklyk, basynç, nem gibi farkly fiziksel veya kimyasal büyüklükleri de ölçebilirler. Bu çaly?mada, bir sinyal i?leme uygulamasy olarak analog giri? sinyallerinin grafik likit kristal ekranda (GLCD) görüntülenmesini sa?layan bir sayysal osiloskop tasarymy gerçekle?tirilmi?tir. Çaly?manyn amacy, ölçülen i?aretlerin bir mikrodenetleyici ile i?lenip GLCD aracyly?yyla sinyal ?ekillerinin görüntülenmesini sa?lamaktyr. Tasarymda; ölçülen analog i?aretler, mikrodenetleyici ile 4 kanal 10-bit analog-dijital dönü?türücü kullanylarak 100 Kbps hyzynda örneklenmi?tir. Bu çaly?ma, mikrodenetleyicinin giri?-çyky? portlary üzerinden bilgisayar ileti?imi eklenerek daha da geli?tirilmeye müsaittir.
Anahtar Kelimeler
Ayrıntılar
Birincil Dil
Türkçe
Konular
-
Bölüm
-
Yayımlanma Tarihi
1 Şubat 2011
Gönderilme Tarihi
29 Ağustos 2014
Kabul Tarihi
-
Yayımlandığı Sayı
Yıl 2011 Cilt: 6 Sayı: 1
APA
Kabalcı, Y., Develi, İ., & Bilim, M. (2011). Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences, 6(1), 162-169. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019
AMA
1.Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011;6(1):162-169. doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019
Chicago
Kabalcı, Yasin, İbrahim Develi, ve Mehmet Bilim. 2011. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences 6 (1): 162-69. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
EndNote
Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M (01 Şubat 2011) Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences 6 1 162–169.
IEEE
[1]Y. Kabalcı, İ. Develi, ve M. Bilim, “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”, Engineering Sciences, c. 6, sy 1, ss. 162–169, Şub. 2011, doi: 10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
ISNAD
Kabalcı, Yasin - Develi, İbrahim - Bilim, Mehmet. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences 6/1 (01 Şubat 2011): 162-169. https://doi.org/10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
JAMA
1.Kabalcı Y, Develi İ, Bilim M. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 2011;6:162–169.
MLA
Kabalcı, Yasin, vd. “Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy”. Engineering Sciences, c. 6, sy 1, Şubat 2011, ss. 162-9, doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019.
Vancouver
1.Yasin Kabalcı, İbrahim Develi, Mehmet Bilim. Mikrodenetleyici Kontrollü Yki Kanally Sayysal Osiloskop Tasarymy. Engineering Sciences. 01 Şubat 2011;6(1):162-9. doi:10.12739/nwsaes.v6i1.5000067019