BibTex RIS Cite

Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması

Year 2009, Volume: 12 Issue: 2 - Volume: 12 Issue: 2, 79 - 84, 01.06.2009

Abstract

Bu çalışmada; PIC16F876 mikrodenetleyici tabanlı bir gerçek etkin değer ölçüm sistemi uygulaması yapılmıştır. Güç kontrol sistemlerinde, alternatif gerilimin etkin değerine ulaşmak önemli bir husustur. Yüke uygulanan gerilimin sinüsoidal olması durumunda, gerilimin ölçülmesi ve değerlendirme birimine aktarılması basit devre düzenlemeleri ile gerçekleştirilebilir. Ancak; sinüs sinyalinin şeklindeki bozulmalar veya sinüs sinyalin faz açısına bağlı kontrol çalışmalarında, yüke aktarılan gerilimi ölçmek ve değerlendirme birimine aktarmak sorun haline gelmektedir. Özellikle faz açısına bağlı güç kontrol devrelerinde, çıkışta elde edilen gerilimin kararlı olması aranan bir özelliktir. Bu tür sistemlerde kararlı bir çıkış gerilimi elde etmek, olduğunca hızlı ve doğru ölçüm sonuçları ile mümkündür. Bu çalışmanın amacı, faz açısına bağlı kontrol sistemlerinde kullanılabilecek, ortalama % 0,4 hassasiyetle ölçüm yapabilen, yüksek güç uygulamalarında kullanmaya elverişli, mikrodenetleyici tabanlı bir gerçek etkin değer ölçme sistemi geliştirmektir.

A Microcontroller Based Application of a True Rms Value Scale System

Year 2009, Volume: 12 Issue: 2 - Volume: 12 Issue: 2, 79 - 84, 01.06.2009

Abstract

This study provides an overview of an application of a true RMS value scale system by PIC 16F876 microcontroller. In power control systems, to get the RMS value of an alternative voltage is very important. In case of the voltage being applied to charge is sinusoid, the measurement of the voltage and transferring it to the valuing module are performed by simple circuit arrangements. However, deformations of sinus signal or control operations relating phase angle, to measure the voltage applied to charge and to transfer it to the valuing module pose a problem. Particularly in power control circuits relating phase angle, the output voltage is expected to be stable. In these sorts of systems, acquiring a stable output voltage is feasible via pretty fast and accurate measurement results. This paper sets its sights on developing a microcontroller based true RMS value scale system which will be used in control systems deleted to the phase angle, which can measure with sensitivity of average % 0,4 and which is convenient for using in high power applications

There are 0 citations in total.

Details

Other ID JA95GA73MK
Journal Section Research Article
Authors

Çetin Gençer This is me

Publication Date June 1, 2009
Submission Date June 1, 2009
Published in Issue Year 2009 Volume: 12 Issue: 2 - Volume: 12 Issue: 2

Cite

APA Gençer, Ç. (2009). Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi, 12(2), 79-84.
AMA Gençer Ç. Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi. June 2009;12(2):79-84.
Chicago Gençer, Çetin. “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”. Politeknik Dergisi 12, no. 2 (June 2009): 79-84.
EndNote Gençer Ç (June 1, 2009) Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi 12 2 79–84.
IEEE Ç. Gençer, “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”, Politeknik Dergisi, vol. 12, no. 2, pp. 79–84, 2009.
ISNAD Gençer, Çetin. “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”. Politeknik Dergisi 12/2 (June 2009), 79-84.
JAMA Gençer Ç. Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi. 2009;12:79–84.
MLA Gençer, Çetin. “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”. Politeknik Dergisi, vol. 12, no. 2, 2009, pp. 79-84.
Vancouver Gençer Ç. Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi. 2009;12(2):79-84.