Değiştirilebilir Sanal Enstrümanlar Teknolojisi ile Kalibrasyon Otomasyonu Uygulamalarında Performans Artırılması

Öz

Anahtar Kelimeler

• -

Değiştirilebilir Sanal Enstrümanlar Teknolojisi ile Kalibrasyon Otomasyonu Uygulamalarında Performans Artırılması

Öz

Bu çalışmada elektronik ölçüm cihazlarının periyodik kalibrasyonunun daha hızlı ve yüksek doğruluklu yapılabilmesi amacıyla, yeni nesil yazılım ve donanım destekleri kullanılarak kalibrasyon prosedürlerinin otomasyonu gerçeklenmiştir. Ölçüm cihazlarının kontrolünde son yıllarda ön plana çıkan Değiştirilebilir Sanal Cihazlar (Interchangeable Virtual Instruments, IVI) teknolojisini kalibrasyon otomasyonu yazılımında kullanılarak, otomasyon sisteminin performansının ve esnekliğinin arttırılması hedeflenmiştir. IVI standartlarının sunduğu cihazların değiştirilebilirliği (interchangeability), cihaz benzetimi (simulation) ve durum önbelleklemesi (state-caching) özellikleri ile sistemin uzun süreçte idame ettirilebilirliğinin sağlanması örnek bir uygulamada gösterilmiştir. Ayrıca bir kalibrasyon otomasyonunun asıl hedefi olan zaman ve insan gücü tasarrufuna yazılım parametrelerinin etkisi örnek uygulama üzerinden ele alınmıştır

Anahtar Kelimeler

• Kalibrasyon, Otomasyon, IVI standartları

Kaynakça

1. AFMETCAL. (2010). T.O.33K8-4-551-1, Technical manual, Calibration prosedure for digital voltmeter 3458A, USA.
2. Ahmad, S., Rustagi, V.K., Govil, A.K., Aggarwal, R., Pal, B. ve Kothari, P.C. (2007). Automation of direct comparison technique and study of long term performance on the calibration. Asia-Pacific Microwave Conference, Bangkok, Tayland.
3. Bode, F. (2003). IVI comes of age: An overview of IVI specifications with current status. Aerospace and Electronic Systems Magazine, 18(6), 31-34.
4. Cheij, D. (2001). Using interchangeable virtual instrument (IVI) drivers to increase test system performance. Aerospace and Electronic Systems Magazine, 16(7), 8-11.
5. Chen S., Yuan X., Yu C., Zhao Q. (2009). Development of the Automated impedance measurement system based on the slotted line. International Measuring Technology and Mechatronics Automation Conference, Zhangjiajie, China.
6. Creasman, S.M. ve Pheanis, D.C. (2006). Automated system for calibration and validation of automotive test instrumentation. World Automation Congress, WAC '06, Budapest.
7. Drnovsek, J., Bojkovski, J., Pusnik, I. ve Tasic, T. (1998). Automation of a calibration Conference, Washington, USA. Precision
8. Electromagnetic Measurements Fertitta, K.G. (2010). Understanding the benefits of IVI.

9. http://www.ivifoundation.org/resources/default.aspx adresinden alınmıştır.
10. Filipski, P.S. ve Rinfet, R. (2000). An automated AC-DC transfer calibration system. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 49(2), 279-284.
11. Güven, B. ve Uzun, T. (2007). Kontrol sistemlerinde kullanılan veri haberleşmesi teknolojileri. 1. Haberleşme Teknolojileri Ve Uygulamaları Sempozyumu, İstanbul.
12. ISO/IEC. (2005). 17025 Deney ve kalibrasyon laboratuvarlarının yeterliliği için genel şartlar standardı.
13. Kennedy, C.R. (2004). Software replacement of test module adapters for depot instrumentation due to obsolescence. IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine, 19(7), 25-30.
14. Li N., Liu Q., Wang L. ve Liu X. (2008). A novel approach for automation of precision calibration process. 4th International Information and Automation for Sustainability Conference, Beijing, China.
15. Lili, X. (2007). A programming model for instrument calibration system. 8th International Electronic Measurement and Instruments Conference, China.
16. Lind, D., Haney, M. ve Healey, R. (2011). Polymorphic analog instrument environment. The Systems Readiness Technology Conference, Baltimore, USA.
17. Niu S. ve Xu A. (2008). A COM-based instrument interchangeable framework and its realization approach. The Systems Readiness Technology Conference, Utah, USA.
18. Randle, W.C. ve Kerth, N. (1978). Microprocessors in instrumentation. Proceedings of the IEEE, 66(2), 172-181.
19. Yang S., Ling L. ve Kang G. (2010). Research of an Automatic RF Devices Characteristic Test Bench for DC and Scattering Parameters. 2nd International Information Engineering and Computer Science Conference (ICIECS), Wuhan, China.