Araştırma Makalesi
BibTex RIS Kaynak Göster

NRW Metodu İle Malzemelerin Elektromanyetik Parametrelerinin Bulunması

Yıl 2018, Cilt: 1 Sayı: 1, 13 - 19, 08.08.2018

Öz

NRW algoritması, malzeme karakterizasyonunda
kullanılan yansıma ve geçiş ölçüm tekniğinin hesaplama yöntemlerinden
birisidir. Bu çalışmada, NRW algoritması MATLAB programında yazılan bir kod ile
oluşturulmuştur ve bu program CST benzetim sonuçlarından elde edilen saçılma parametrelerini
girdi olarak kullanmaktadır. Benzetimlerde dikkat edilecek en önemli nokta
referans düzlemi tanımlanmasıdır. Bu düzlem malzemelerin iki yüzeyi olacak
şekilde seçilir. Referans düzlemi tanımlanmadan yapılan benzetimlerin,
literatürde bilinen değerlerden oldukça farklı sonuçlar verdiği
gözlemlenmiştir. Referans düzlemi seçilerek yapılan benzetimlerde, seçilen
dielektrik ve manyetik malzemelerin R, X ve Ku frekans bantlarında CST
benzetimleri yapılmış ve elde edilen sonuçlar MATLAB kodunda girdi olarak
kullanılmıştır. Elde edilen
έr (dielektrik sabiti)
ve
 
έr (kayıp terimi)
değerleri literatürde bilinen değerleriyle karşılaştırılmıştır
.

Kaynakça

  • Chen L.F., Ong C.K., Neo C.P., Varadan V.V., Varadan V.K., 2004. Microwave Electronics: Measurement and Materials Characterization, John Wiley and Sons, West Sussex, England.
  • Nicolson A.M., Ross G.F., 1970. Measurement of The Intrinsic Properties of Materials by Time Domain Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements VOL. IM-19, No.4.
  • Weir W.B., 1974. Automatic Measurement of Complex Dielectric Constant and Permeability at Microwave Frequencies. Proceedings of The IEEE VOL. 62, No.1.
  • Boughriet A.H., Legrand C., Chapoton A., 1997. Noniterative Stable Transmission/Reflection Method for Low-Loss Material Complex Permittivity Determination. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques VOL. 45, No.1.
  • Baker-Jarvis J., Geyer R.G., Domich P.D., 1992. A Nonlinear Least Squares Solution with Causality Constraints Applied to Transmission Line Permittivity and Permeability Determination. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements VOL. 41, No.5.
  • Baker-Jarvis J., Vanzura E.J., Kissick W.A., 1990. Improved Technique for Determining Complex Permittivity with the Transmission/Reflection Method. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques VOL. 38, No.8.
  • Baker-Jarvis J., 1990. Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Permittivity Measurements. NIST Technical Note, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO.
  • Baker-Jarvis J., Janezic M.D., Grosvenor J.H.Jr., and Geyer R.G., 1993. Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Methods for Measuring Permittivity and Permeability. NIST Technical Note 1355, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO.
  • Balanis C.A., 1989. Advanced Engineering Electromagnetics, John Wiley and Sons, West Sussex, England.
Yıl 2018, Cilt: 1 Sayı: 1, 13 - 19, 08.08.2018

Öz

Kaynakça

  • Chen L.F., Ong C.K., Neo C.P., Varadan V.V., Varadan V.K., 2004. Microwave Electronics: Measurement and Materials Characterization, John Wiley and Sons, West Sussex, England.
  • Nicolson A.M., Ross G.F., 1970. Measurement of The Intrinsic Properties of Materials by Time Domain Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements VOL. IM-19, No.4.
  • Weir W.B., 1974. Automatic Measurement of Complex Dielectric Constant and Permeability at Microwave Frequencies. Proceedings of The IEEE VOL. 62, No.1.
  • Boughriet A.H., Legrand C., Chapoton A., 1997. Noniterative Stable Transmission/Reflection Method for Low-Loss Material Complex Permittivity Determination. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques VOL. 45, No.1.
  • Baker-Jarvis J., Geyer R.G., Domich P.D., 1992. A Nonlinear Least Squares Solution with Causality Constraints Applied to Transmission Line Permittivity and Permeability Determination. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements VOL. 41, No.5.
  • Baker-Jarvis J., Vanzura E.J., Kissick W.A., 1990. Improved Technique for Determining Complex Permittivity with the Transmission/Reflection Method. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques VOL. 38, No.8.
  • Baker-Jarvis J., 1990. Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Permittivity Measurements. NIST Technical Note, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO.
  • Baker-Jarvis J., Janezic M.D., Grosvenor J.H.Jr., and Geyer R.G., 1993. Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Methods for Measuring Permittivity and Permeability. NIST Technical Note 1355, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO.
  • Balanis C.A., 1989. Advanced Engineering Electromagnetics, John Wiley and Sons, West Sussex, England.
Toplam 9 adet kaynakça vardır.

Ayrıntılar

Birincil Dil Türkçe
Konular Elektrik Mühendisliği
Bölüm Makaleler
Yazarlar

Merve Durmuş

Alp Oral Salman

Tuğba Şeyda Yıldırım Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi 8 Ağustos 2018
Kabul Tarihi 12 Haziran 2018
Yayımlandığı Sayı Yıl 2018 Cilt: 1 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA Durmuş, M., Salman, A. O., & Yıldırım, T. Ş. (2018). NRW Metodu İle Malzemelerin Elektromanyetik Parametrelerinin Bulunması. Kocaeli Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi, 1(1), 13-19.