Araştırma Makalesi
BibTex RIS Kaynak Göster

X-Ray Diffraction Studies of Cd0.22Zn0.78S Films Deposited by Spray Pyrolysis Method at Different Substrate Temperatures

Yıl 2006, Cilt: 10 Sayı: 2, 144 - 148, 10.04.2009

S. Ilıcan Y. Çağlar M. Çağlar

Öz

Cd0.22Zn0.78S films have been deposited by the spray pyrolysis method at different substrate temperatures. This work describes the x-ray diffraction spectra of all the films at room temperature. These spectra of the films showed that they are hexagonal and formed as Cd0.22Zn0.78S polycrystalline structure. Film thickness, texture coefficient, grain size values, lattice constants, and d% error were calculated. Effects of substrate temperature on these properties of the deposited films have been systematically investigated.

Anahtar Kelimeler

Cadmium zinc sulfide Spray pyrolysis method X-ray diffraction spectra Texture coefficient Grain size

Kaynakça

  • (1) Chamberlin, R.R. and Skarman, J.S., 1966, Chemical spray deposition process for inorganic films, J. Electrochem. Soc., 113, 86-89.
  • (2) Yamaguchi, T., Yamamoto, Y., Tanaka, T. and Yoshida, A., 1996, (Cd,Zn)S thin films prepared by chemical bath deposition for photovoltaic devices, Thin Solid Films, 281-282, 375-378.
  • (3) Yamaguchi, T., Yamamoto, Y., Tanaka, T. and Yoshida, A., 1999, Preparation and characterization of (Cd,Zn)S thin films by chemical bath deposition for photovoltaic devices, Thin Solid Films, 343-344, 516-519.
  • (4) Gordillo, G and Torres, J., 1997, Photoconductors based on ZnxCd1−xS and CdSe1−ySy fabricated with multilayer structure, Thin Solid Films, 310, 310-316.
  • (5) Kumar, V., Singh, V., Sharma, S.C. and Sharma, T.P., 1998, Structural and optical properties of sintered Cd1-xZnxS films, Optical Materials, 11, 2934.
  • (6) Lee, J., Song, W., Yi, J. and Yoo, Y., 2003, Characteristics of the CdZnS thin film doped by thermal diffusion of vacuum evaporated indium films, Solar Energy Materials & Solar Cells, 75, 227–234.
  • (7) Kim, H.S., Im, H.B. and Moon, J.T., 1992, Effects of cell width on the photovoltaic properties of sintered Cd1−xZnxS/CdTe solar cells, Thin Solid Films, 214, 207-212.
  • (8) Kobayashi, M., Ueno, J., Enami, M., Katsuta, S., Ichiba, A., Ogura, K., Onomitsu, K. and Horikoshi, Y., 2005, Growth and UV-A sensor applications of MgCdS/ZnCdS superlattices, Journal of Crystal Growth, 278, 273-277.
  • (9) M. Kobayashi, 2005, UV-A sensors of MgCdS /ZnCdS, III-Vs Review, 17, 9, 30-33.
  • (10) Fahrenbruch, A.L., 1977, II-VI Compounds in solar energy conversion, J. Cryst. Growth, 39, 73-91.
  • (11) Nag, B.R., 1980, Electron transport in compound semiconductors, Springer Verlag, New York.
  • (12) Agnihotri, O.P. and Gupta, B.K., 1979, Cd1-xZnxS films for low cost solar cells, Jap. J. Appl. Phys., 18, 317-320.
  • (13) Ilican, S. and Zor, M., 2003, Structural and optical properties of Cd0.22Zn0.78S films produced by spray pyrolysis method, Anad. Uni. J. Sci. and Tech., 4, 47-52.
  • (14) JCPDS file reference number Card No: 351469.
  • (15) Padiyan, D.P. and Marikani, A., 2002, X-ray determination of lattice constants of CdxSn1-xSe mixed crystal systems, Cryst. Res. Technol., 37, 1241-1248.
  • (16) Cullity B.D. and Stock S.R., 2001, Elements of xray diffraction, Prentice Hall, 3nd ed.
  • (17) Barret C.S. and Massalski T.B., 1980, Structure of metals, Pergamon Press, Oxford.

Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması

Yıl 2006, Cilt: 10 Sayı: 2, 144 - 148, 10.04.2009

S. Ilıcan Y. Çağlar M. Çağlar

Öz

Cd0,22Zn0,78S filmleri farklı taban sıcaklıklarında püskürtme yöntemi ile elde edilmiştir. Bu çalışma, elde edilen filmlerin oda sıcaklığında alınan X-ışını kırınım desenlerini açıklamaktadır. Alınan bu desenler filmlerin hekzagonal Cd0,22Zn0,78S yapıda ve polikristal olduğunu göstermektedir. Film kalınlığı, yapılanma katsayısı, tanecik boyutu değerleri, örgü sabitleri ve d-değerlerinin bağıl % hatası hesaplanmıştır. Elde edilen filmlerin bu özelliklerine taban sıcaklığının etkisi araştırılmıştır.

Anahtar Kelimeler

Kadmiyum çinko sülfür Püskürtme yöntemi X-ışınları kırınım desenleri Yapılanma katsayısı Tanecik boyutu

Kaynakça

  • (1) Chamberlin, R.R. and Skarman, J.S., 1966, Chemical spray deposition process for inorganic films, J. Electrochem. Soc., 113, 86-89.
  • (2) Yamaguchi, T., Yamamoto, Y., Tanaka, T. and Yoshida, A., 1996, (Cd,Zn)S thin films prepared by chemical bath deposition for photovoltaic devices, Thin Solid Films, 281-282, 375-378.
  • (3) Yamaguchi, T., Yamamoto, Y., Tanaka, T. and Yoshida, A., 1999, Preparation and characterization of (Cd,Zn)S thin films by chemical bath deposition for photovoltaic devices, Thin Solid Films, 343-344, 516-519.
  • (4) Gordillo, G and Torres, J., 1997, Photoconductors based on ZnxCd1−xS and CdSe1−ySy fabricated with multilayer structure, Thin Solid Films, 310, 310-316.
  • (5) Kumar, V., Singh, V., Sharma, S.C. and Sharma, T.P., 1998, Structural and optical properties of sintered Cd1-xZnxS films, Optical Materials, 11, 2934.
  • (6) Lee, J., Song, W., Yi, J. and Yoo, Y., 2003, Characteristics of the CdZnS thin film doped by thermal diffusion of vacuum evaporated indium films, Solar Energy Materials & Solar Cells, 75, 227–234.
  • (7) Kim, H.S., Im, H.B. and Moon, J.T., 1992, Effects of cell width on the photovoltaic properties of sintered Cd1−xZnxS/CdTe solar cells, Thin Solid Films, 214, 207-212.
  • (8) Kobayashi, M., Ueno, J., Enami, M., Katsuta, S., Ichiba, A., Ogura, K., Onomitsu, K. and Horikoshi, Y., 2005, Growth and UV-A sensor applications of MgCdS/ZnCdS superlattices, Journal of Crystal Growth, 278, 273-277.
  • (9) M. Kobayashi, 2005, UV-A sensors of MgCdS /ZnCdS, III-Vs Review, 17, 9, 30-33.
  • (10) Fahrenbruch, A.L., 1977, II-VI Compounds in solar energy conversion, J. Cryst. Growth, 39, 73-91.
  • (11) Nag, B.R., 1980, Electron transport in compound semiconductors, Springer Verlag, New York.
  • (12) Agnihotri, O.P. and Gupta, B.K., 1979, Cd1-xZnxS films for low cost solar cells, Jap. J. Appl. Phys., 18, 317-320.
  • (13) Ilican, S. and Zor, M., 2003, Structural and optical properties of Cd0.22Zn0.78S films produced by spray pyrolysis method, Anad. Uni. J. Sci. and Tech., 4, 47-52.
  • (14) JCPDS file reference number Card No: 351469.
  • (15) Padiyan, D.P. and Marikani, A., 2002, X-ray determination of lattice constants of CdxSn1-xSe mixed crystal systems, Cryst. Res. Technol., 37, 1241-1248.
  • (16) Cullity B.D. and Stock S.R., 2001, Elements of xray diffraction, Prentice Hall, 3nd ed.
  • (17) Barret C.S. and Massalski T.B., 1980, Structure of metals, Pergamon Press, Oxford.
Toplam 17 adet kaynakça vardır.

Ayrıntılar

Birincil Dil Türkçe
Konular Mühendislik
Bölüm TEMEL BİLİMLER
Yazarlar

S. Ilıcan Bu kişi benim

Y. Çağlar Bu kişi benim

M. Çağlar Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi 10 Nisan 2009
Yayımlandığı Sayı Yıl 2006 Cilt: 10 Sayı: 2

Kaynak Göster

APA Ilıcan, S., Çağlar, Y., & Çağlar, M. (2009). Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 10(2), 144-148.
AMA Ilıcan S, Çağlar Y, Çağlar M. Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. Nisan 2009;10(2):144-148.
Chicago Ilıcan, S., Y. Çağlar, ve M. Çağlar. “Püskürtme Yöntemi Ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 10, sy. 2 (Nisan 2009): 144-48.
EndNote Ilıcan S, Çağlar Y, Çağlar M (01 Nisan 2009) Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 10 2 144–148.
IEEE S. Ilıcan, Y. Çağlar, ve M. Çağlar, “Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması”, Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg., c. 10, sy. 2, ss. 144–148, 2009.
ISNAD Ilıcan, S. vd. “Püskürtme Yöntemi Ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 10/2 (Nisan 2009), 144-148.
JAMA Ilıcan S, Çağlar Y, Çağlar M. Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 2009;10:144–148.
MLA Ilıcan, S. vd. “Püskürtme Yöntemi Ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, c. 10, sy. 2, 2009, ss. 144-8.
Vancouver Ilıcan S, Çağlar Y, Çağlar M. Püskürtme Yöntemi ile Farklı Taban Sıcaklıklarında Elde Edilen Cd0,22Zn0,78S Filmlerinin X-Işınları Çalışması. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 2009;10(2):144-8.

e-ISSN :1308-6529
Linking ISSN (ISSN-L): 1300-7688

Dergide yayımlanan tüm makalelere ücretiz olarak erişilebilinir ve Creative Commons CC BY-NC Atıf-GayriTicari lisansı ile açık erişime sunulur. Tüm yazarlar ve diğer dergi kullanıcıları bu durumu kabul etmiş sayılırlar. CC BY-NC lisansı hakkında detaylı bilgiye erişmek için tıklayınız.