BibTex RIS Kaynak Göster

İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi

Yıl 2002, Cilt: 1 Sayı: 19, 31 - 39, 01.12.2002

Gültekin Çelik Haluk Şafak

Öz

Bu çalışmada ince fimlerirı optikseI karakterizasyonunda sıkça kullanılan polarimetrik bir yöntem olan Elipsometri tekniği incelenmiştir. Yapılan çalışmada bir elektromagnetik dalganın elipsometre düzeneği içersindeki davranışı ayrıntılı olarak ele alınmıştır. Daha sonra elipsometrik parametreler ve denklemler tanımlanmış ve her hangi bir ince film için kırılma indisi ve soğurma katsayısının elipsometrik yöntemle nasıl hesaplandığı açıklanmıştır.

Anahtar Kelimeler

İnce Film Elipsometri Jones Hesaplaması

Determination of Optical Properties Of Thin Films by Ellipsometry Technique

Yıl 2002, Cilt: 1 Sayı: 19, 31 - 39, 01.12.2002

Gültekin Çelik Haluk Şafak

Öz

Anahtar Kelimeler

Thin Film Ellipsometry Jones Calculation

Toplam 0 adet kaynakça vardır.

Ayrıntılar

Diğer ID JA58TM58NH
Bölüm Araştırma Makaleleri
Yazarlar

Gültekin Çelik Bu kişi benim

Haluk Şafak Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi 1 Aralık 2002
Gönderilme Tarihi 1 Aralık 2002
Yayımlandığı Sayı Yıl 2002 Cilt: 1 Sayı: 19

Kaynak Göster

APA Çelik, G., & Şafak, H. (2002). İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi. Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi, 1(19), 31-39.
AMA Çelik G, Şafak H. İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi. sufefd. Aralık 2002;1(19):31-39.
Chicago Çelik, Gültekin, ve Haluk Şafak. “İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi”. Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi 1, sy. 19 (Aralık 2002): 31-39.
EndNote Çelik G, Şafak H (01 Aralık 2002) İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi. Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi 1 19 31–39.
IEEE G. Çelik ve H. Şafak, “İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi”, sufefd, c. 1, sy. 19, ss. 31–39, 2002.
ISNAD Çelik, Gültekin - Şafak, Haluk. “İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi”. Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi 1/19 (Aralık 2002), 31-39.
JAMA Çelik G, Şafak H. İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi. sufefd. 2002;1:31–39.
MLA Çelik, Gültekin ve Haluk Şafak. “İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi”. Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi, c. 1, sy. 19, 2002, ss. 31-39.
Vancouver Çelik G, Şafak H. İnce Filmlerin Optik Özelliklerinin Elipsometrik Yöntemle Belirlenmesi. sufefd. 2002;1(19):31-9.

Dergi Sahibi: Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Adına Rektör Prof. Dr. Hüseyin YILMAZ
Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi temel bilimlerde ve diğer uygulamalı bilimlerde özgün sonuçları olan Türkçe ve İngilizce makaleleri kabul eder. Dergide ayrıca güncel yenilikleri içeren derlemelere de yer verilebilir.
Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi;
İlk olarak 1981 yılında S.Ü. Fen-Edebiyat Fakültesi Dergisi olarak yayın hayatına başlamış; 1984 yılına kadar (Sayı 1-4) bu adla yayınlanmıştır.
1984 yılında S.Ü. Fen-Edeb. Fak. Fen Dergisi olarak adı değiştirilmiş 5. sayıdan itibaren bu isimle yayınlanmıştır.
3 Aralık 2008 tarih ve 27073 sayılı Resmi Gazetede yayımlanan 2008/4344 sayılı Bakanlar Kurulu Kararı ile Fen-Edebiyat Fakültesi; Fen Fakültesi ve Edebiyat Fakültesi olarak ayrılınca 2009 yılından itibaren dergi Fen Fakültesi Fen Dergisi olarak çıkmıştır.
2016 yılından itibaren DergiPark’ta taranmaktadır.

88x31.png

Selçuk Üniversitesi Fen Fakültesi Fen Dergisi Creative Commons Atıf 4.0 Uluslararası Lisansı (CC BY-NC 4.0) ile lisanslanmıştır.