TR
NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı
Abstract
Bu çalışmanın amacı; analog elektronik eğitimi için National Instruments (NI) ELVIS platformuna uygun, Multisim ve LabVIEW ile tümleşik deney kartları tasarlanmasıdır. Geleneksel olarak, analog elektronik eğitiminde üç farklı araç kullanılmaktadır: Ders kitapları, simülasyon ve laboratuvar deneyleri. Bu araçlar arasında yeterli bağlantı olmadığı zaman, öğrenciler derslerden laboratuvar deneylerine ya da teoriden uygulamaya geçişte zorlanmaktadır. Bu çalışmada, NI ELVIS platformu için tasarlanan 5 (beş) adet analog elektronik deney kartı anlatılmaktadır. Bu kartlar üzerinde gerçekleştirilen bütün deneylerde; öncelikle NI Multisim ortamında deney kartlarında kullanılan gerçek komponentlerin modelleri kullanılarak simülasyonlar yapılmakta, sonrasında yine NI Multisim ortamında NI ELVIS platformu kullanılarak gerçek devreler üzerinde ölçümler yapılmaktadır. Bu sayede, NI Multisim ortamında gerçekleştirilen simülasyon sonuçları ile NI ELVIS üzerine takılan deney kartlarında yapılan ölçümlerin aynı ortamda doğrudan karşılaştırılması ve teori ile deneysel sonuçların bütünleştirilmesi sağlanmaktadır.
Keywords
References
- [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
- [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
- [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
- [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.
Details
Primary Language
Turkish
Subjects
Engineering
Journal Section
Research Article
Authors
Publication Date
September 30, 2016
Submission Date
November 14, 2015
Acceptance Date
-
Published in Issue
Year 2016 Volume: 3 Number: 3
APA
Kocatepe, Ü. (2016). NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri, 3(3). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574
AMA
1.Kocatepe Ü. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri Journal of Science and Engineering. 2016;3(3). doi:10.31202/ecjse.258574
Chicago
Kocatepe, Ünsal. 2016. “NI ELVIS Için Multisim Ve LabVIEW Ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri 3 (3). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574.
EndNote
Kocatepe Ü (October 1, 2016) NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri 3 3
IEEE
[1]Ü. Kocatepe, “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”, El-Cezeri Journal of Science and Engineering, vol. 3, no. 3, Oct. 2016, doi: 10.31202/ecjse.258574.
ISNAD
Kocatepe, Ünsal. “NI ELVIS Için Multisim Ve LabVIEW Ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri 3/3 (October 1, 2016). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574.
JAMA
1.Kocatepe Ü. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri Journal of Science and Engineering. 2016;3. doi:10.31202/ecjse.258574.
MLA
Kocatepe, Ünsal. “NI ELVIS Için Multisim Ve LabVIEW Ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri, vol. 3, no. 3, Oct. 2016, doi:10.31202/ecjse.258574.
Vancouver
1.Ünsal Kocatepe. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri Journal of Science and Engineering. 2016 Oct. 1;3(3). doi:10.31202/ecjse.258574
