TR
NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı
Öz
Bu çalışmanın amacı; analog elektronik eğitimi için National Instruments (NI) ELVIS platformuna uygun, Multisim ve LabVIEW ile tümleşik deney kartları tasarlanmasıdır. Geleneksel olarak, analog elektronik eğitiminde üç farklı araç kullanılmaktadır: Ders kitapları, simülasyon ve laboratuvar deneyleri. Bu araçlar arasında yeterli bağlantı olmadığı zaman, öğrenciler derslerden laboratuvar deneylerine ya da teoriden uygulamaya geçişte zorlanmaktadır. Bu çalışmada, NI ELVIS platformu için tasarlanan 5 (beş) adet analog elektronik deney kartı anlatılmaktadır. Bu kartlar üzerinde gerçekleştirilen bütün deneylerde; öncelikle NI Multisim ortamında deney kartlarında kullanılan gerçek komponentlerin modelleri kullanılarak simülasyonlar yapılmakta, sonrasında yine NI Multisim ortamında NI ELVIS platformu kullanılarak gerçek devreler üzerinde ölçümler yapılmaktadır. Bu sayede, NI Multisim ortamında gerçekleştirilen simülasyon sonuçları ile NI ELVIS üzerine takılan deney kartlarında yapılan ölçümlerin aynı ortamda doğrudan karşılaştırılması ve teori ile deneysel sonuçların bütünleştirilmesi sağlanmaktadır.
Anahtar Kelimeler
Kaynakça
- [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
- [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
- [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
- [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.
Ayrıntılar
Birincil Dil
Türkçe
Konular
Mühendislik
Bölüm
Araştırma Makalesi
Yazarlar
Yayımlanma Tarihi
30 Eylül 2016
Gönderilme Tarihi
14 Kasım 2015
Kabul Tarihi
-
Yayımlandığı Sayı
Yıl 2016 Cilt: 3 Sayı: 3
APA
Kocatepe, Ü. (2016). NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri, 3(3). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574
AMA
1.Kocatepe Ü. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. ECJSE. 2016;3(3). doi:10.31202/ecjse.258574
Chicago
Kocatepe, Ünsal. 2016. “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri 3 (3). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574.
EndNote
Kocatepe Ü (01 Ekim 2016) NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri 3 3
IEEE
[1]Ü. Kocatepe, “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”, ECJSE, c. 3, sy 3, Eki. 2016, doi: 10.31202/ecjse.258574.
ISNAD
Kocatepe, Ünsal. “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri 3/3 (01 Ekim 2016). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574.
JAMA
1.Kocatepe Ü. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. ECJSE. 2016;3. doi:10.31202/ecjse.258574.
MLA
Kocatepe, Ünsal. “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri, c. 3, sy 3, Ekim 2016, doi:10.31202/ecjse.258574.
Vancouver
1.Ünsal Kocatepe. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. ECJSE. 01 Ekim 2016;3(3). doi:10.31202/ecjse.258574


