Araştırma Makalesi
BibTex RIS Kaynak Göster
Yıl 2016, , 0 - 0, 30.09.2016
https://doi.org/10.31202/ecjse.258574

Öz

Kaynakça

  • [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
  • [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
  • [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
  • [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.

NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı

Yıl 2016, , 0 - 0, 30.09.2016
https://doi.org/10.31202/ecjse.258574

Öz

Bu çalışmanın amacı; analog elektronik eğitimi için National Instruments (NI) ELVIS platformuna uygun, Multisim ve LabVIEW ile tümleşik deney kartları tasarlanmasıdır. Geleneksel olarak, analog elektronik eğitiminde üç farklı araç kullanılmaktadır: Ders kitapları, simülasyon ve laboratuvar deneyleri. Bu araçlar arasında yeterli bağlantı olmadığı zaman, öğrenciler derslerden laboratuvar deneylerine ya da teoriden uygulamaya geçişte zorlanmaktadır. Bu çalışmada, NI ELVIS platformu için tasarlanan 5 (beş) adet analog elektronik deney kartı anlatılmaktadır. Bu kartlar üzerinde gerçekleştirilen bütün deneylerde; öncelikle NI Multisim ortamında deney kartlarında kullanılan gerçek komponentlerin modelleri kullanılarak simülasyonlar yapılmakta, sonrasında yine NI Multisim ortamında NI ELVIS platformu kullanılarak gerçek devreler üzerinde ölçümler yapılmaktadır. Bu sayede, NI Multisim ortamında gerçekleştirilen simülasyon sonuçları ile NI ELVIS üzerine takılan deney kartlarında yapılan ölçümlerin aynı ortamda doğrudan karşılaştırılması ve teori ile deneysel sonuçların bütünleştirilmesi sağlanmaktadır.

Kaynakça

  • [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
  • [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
  • [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
  • [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.
Toplam 4 adet kaynakça vardır.

Ayrıntılar

Birincil Dil Türkçe
Konular Mühendislik
Bölüm UMAS 2015 Ulusal Mühendislik Araştırmaları Sempozyumu Seçilen Makaleler
Yazarlar

Ünsal Kocatepe

Yayımlanma Tarihi 30 Eylül 2016
Gönderilme Tarihi 14 Kasım 2015
Yayımlandığı Sayı Yıl 2016

Kaynak Göster

IEEE Ü. Kocatepe, “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”, ECJSE, c. 3, sy. 3, 2016, doi: 10.31202/ecjse.258574.