Araştırma Makalesi

NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı

Cilt: 3 Sayı: 3 30 Eylül 2016
PDF İndir
TR

NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı

Öz

Bu çalışmanın amacı; analog elektronik eğitimi için National Instruments (NI) ELVIS platformuna uygun, Multisim ve LabVIEW ile tümleşik deney kartları tasarlanmasıdır. Geleneksel olarak, analog elektronik eğitiminde üç farklı araç kullanılmaktadır: Ders kitapları, simülasyon ve laboratuvar deneyleri. Bu araçlar arasında yeterli bağlantı olmadığı zaman, öğrenciler derslerden laboratuvar deneylerine ya da teoriden uygulamaya geçişte zorlanmaktadır. Bu çalışmada, NI ELVIS platformu için tasarlanan 5 (beş) adet analog elektronik deney kartı anlatılmaktadır. Bu kartlar üzerinde gerçekleştirilen bütün deneylerde; öncelikle NI Multisim ortamında deney kartlarında kullanılan gerçek komponentlerin modelleri kullanılarak simülasyonlar yapılmakta, sonrasında yine NI Multisim ortamında NI ELVIS platformu kullanılarak gerçek devreler üzerinde ölçümler yapılmaktadır. Bu sayede, NI Multisim ortamında gerçekleştirilen simülasyon sonuçları ile NI ELVIS üzerine takılan deney kartlarında yapılan ölçümlerin aynı ortamda doğrudan karşılaştırılması ve teori ile deneysel sonuçların bütünleştirilmesi sağlanmaktadır.

Anahtar Kelimeler

Kaynakça

  1. [1] Brewer, Thomas E., Georgia Institute of Technology Simplifies Teaching Circuit Theory with NI ELVIS, NI LabVIEW and NI Multisim, Georgia Institute of Technology [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11164.
  2. [2] Sierens, F., Using NI ELVIS II to Create Exercises and Teach Microcontroller Concepts University College Ghent [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-12704.
  3. [3] Sapijaszko, C., DeVry University Teaches Electronics and Circuits Courses Using NI ELVIS and NI Multisim, DeVry University [Online], http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-11163.
  4. [4] Green, P., National Instruments Tools Help Manchester Improve Student Satisfaction From 67% to 98%, The University of Manchester [Online], http://www.ni.com/pdf/products/us/Manchester_Case_Study.pdf.

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

Mühendislik

Bölüm

Araştırma Makalesi

Yayımlanma Tarihi

30 Eylül 2016

Gönderilme Tarihi

14 Kasım 2015

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2016 Cilt: 3 Sayı: 3

Kaynak Göster

APA
Kocatepe, Ü. (2016). NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri, 3(3). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574
AMA
1.Kocatepe Ü. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. ECJSE. 2016;3(3). doi:10.31202/ecjse.258574
Chicago
Kocatepe, Ünsal. 2016. “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri 3 (3). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574.
EndNote
Kocatepe Ü (01 Ekim 2016) NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. El-Cezeri 3 3
IEEE
[1]Ü. Kocatepe, “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”, ECJSE, c. 3, sy 3, Eki. 2016, doi: 10.31202/ecjse.258574.
ISNAD
Kocatepe, Ünsal. “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri 3/3 (01 Ekim 2016). https://doi.org/10.31202/ecjse.258574.
JAMA
1.Kocatepe Ü. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. ECJSE. 2016;3. doi:10.31202/ecjse.258574.
MLA
Kocatepe, Ünsal. “NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı”. El-Cezeri, c. 3, sy 3, Ekim 2016, doi:10.31202/ecjse.258574.
Vancouver
1.Ünsal Kocatepe. NI ELVIS için Multisim ve LabVIEW ile Tümleşik Analog Elektronik Deney Kartları Tasarımı. ECJSE. 01 Ekim 2016;3(3). doi:10.31202/ecjse.258574