In this study, two gold/palladium (Au/Pd) thin films having 20 nm and 80 nm thickness values were simultaneously deposited on glass substrates by adjusting target-substrate distance via radio frequency (RF) magnetron sputtering technique. The optical and surface properties of the produced thin films were investigated by using UV-VIS spectrophotometer, interferometer, tensiometer and atomic force microscope. The effects of film thickness on the investigated properties of the thin films were reported.
Bu çalışmada, 20 nm ve 80 nm kalınlığa sahip iki adet altın/paladyum (Au/Pd) ince film, eş zamanlı olarak radyo frekans (RF) magnetron sıçratma tekniği ile hedef-alttaş mesafesinin ayarlanmasıyla cam alttaşlar üzerinde biriktirilmiştir. Üretilen ince filmlerin optik ve yüzey özellikleri UV-VIS spektrofotometre, interferometre, tansiyometre ve atomik kuvvet mikroskobu kullanılarak incelenmiştir. Film kalınlığının, ince filmlerin incelenen özellikleri üzerindeki etkileri rapor edilmektedir.
Primary Language | English |
---|---|
Subjects | Metrology, Applied and Industrial Physics |
Journal Section | Fizik / Physics |
Authors | |
Publication Date | September 1, 2019 |
Submission Date | January 16, 2019 |
Acceptance Date | April 10, 2019 |
Published in Issue | Year 2019 |