Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi

Volume: 2 Number: 1 June 1, 2011
  • Tayyar Güngör
  • Guy J. Adrıaenssens
TR EN

Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi

Abstract

Optical properties and dark current activation energy of hydrogenated amorphous silicon (a,Si:H) produced by the expanding thermal plasma chemical vapour deposition (ETPCVD) technique are investigated as a function of substrate temperature in the 150,500°C temperature range. The optical transmission spectra were used to obtain the thickness, refractive index, and optical band gap of the a, Si:H films. It is observed that while the refractive index is increasing with substrate temperature, the optical band gap and deposition rate, as well as the dark conductivity activation energy, are decreasing.

Keywords

References

  1. Brinza, M. et al., (2002). J. Non-Cryst. Solids, 299, 420.
  2. Willekens, J. et al., (2004) Optical Spectrocopy of the Gap State Density in Etp-Deposited a-Si:H, Journal of Non-Crystalline Solids,338-340, 244-248.
  3. Güngör, T. (1998). Determination of optical constant and thickness for a-SiNx:H thin film, Journal of Research in Physics, 27, No.1, 1-9.
  4. Güngör, T. (2002). Turkish Journal of Physics, 26, 269 (2002).
  5. Güngör, T. & Saka, B. (2004). Calculation of the optical constants of a thin layer upon a transparent substrate from the reflection spectrum using a genetic algorithm, Thin Solid Films, 467, 319-325.
  6. Golikova, O. A. et al., (1997). Physics and Astronomy Semiconductors,Volume 31, Number 7, 691-694.
  7. Iakoubovskii, K. (2000) Optical Study of Defects in Diamond, PhD. Thesis, University of Leuven.
  8. Kessels, W. M. M. (2000). Remote Plasma Deposition of Hydrogenated Amorphous Silicon: Plasma Processes, Film Growth, and the Material Properties, PhD. Thesis, Eindhoven University of Technology.

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

-

Journal Section

-

Authors

Tayyar Güngör This is me

Guy J. Adrıaenssens This is me

Publication Date

June 1, 2011

Submission Date

December 19, 2015

Acceptance Date

-

Published in Issue

Year 2011 Volume: 2 Number: 1

APA
Güngör, T., & Adrıaenssens, G. J. (2011). Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 2(1), 40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF
AMA
1.Güngör T, Adrıaenssens GJ. Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. MAKUFEBED. 2011;2(1):40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF
Chicago
Güngör, Tayyar, and Guy J. Adrıaenssens. 2011. “Alttaş Sıcaklığının Expanding Thermal Plazma Yöntemi Ile Elde Edilen A-Si:H Filmlerin Optik Ve Elektriksel özellikleri üzerine Etkisi”. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 2 (1): 40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF.
EndNote
Güngör T, Adrıaenssens GJ (June 1, 2011) Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 2 1 40–49.
IEEE
[1]T. Güngör and G. J. Adrıaenssens, “Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi”, MAKUFEBED, vol. 2, no. 1, pp. 40–49, June 2011, [Online]. Available: https://izlik.org/JA26EF95TF
ISNAD
Güngör, Tayyar - Adrıaenssens, Guy J. “Alttaş Sıcaklığının Expanding Thermal Plazma Yöntemi Ile Elde Edilen A-Si:H Filmlerin Optik Ve Elektriksel özellikleri üzerine Etkisi”. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 2/1 (June 1, 2011): 40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF.
JAMA
1.Güngör T, Adrıaenssens GJ. Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. MAKUFEBED. 2011;2:40–49.
MLA
Güngör, Tayyar, and Guy J. Adrıaenssens. “Alttaş Sıcaklığının Expanding Thermal Plazma Yöntemi Ile Elde Edilen A-Si:H Filmlerin Optik Ve Elektriksel özellikleri üzerine Etkisi”. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, vol. 2, no. 1, June 2011, pp. 40-49, https://izlik.org/JA26EF95TF.
Vancouver
1.Tayyar Güngör, Guy J. Adrıaenssens. Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. MAKUFEBED [Internet]. 2011 Jun. 1;2(1):40-9. Available from: https://izlik.org/JA26EF95TF