Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi

Cilt: 2 Sayı: 1 1 Haziran 2011
  • Tayyar Güngör
  • Guy J. Adrıaenssens
PDF İndir
TR EN

Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi

Öz

Optical properties and dark current activation energy of hydrogenated amorphous silicon (a,Si:H) produced by the expanding thermal plasma chemical vapour deposition (ETPCVD) technique are investigated as a function of substrate temperature in the 150,500°C temperature range. The optical transmission spectra were used to obtain the thickness, refractive index, and optical band gap of the a, Si:H films. It is observed that while the refractive index is increasing with substrate temperature, the optical band gap and deposition rate, as well as the dark conductivity activation energy, are decreasing.

Anahtar Kelimeler

Kaynakça

  1. Brinza, M. et al., (2002). J. Non-Cryst. Solids, 299, 420.
  2. Willekens, J. et al., (2004) Optical Spectrocopy of the Gap State Density in Etp-Deposited a-Si:H, Journal of Non-Crystalline Solids,338-340, 244-248.
  3. Güngör, T. (1998). Determination of optical constant and thickness for a-SiNx:H thin film, Journal of Research in Physics, 27, No.1, 1-9.
  4. Güngör, T. (2002). Turkish Journal of Physics, 26, 269 (2002).
  5. Güngör, T. & Saka, B. (2004). Calculation of the optical constants of a thin layer upon a transparent substrate from the reflection spectrum using a genetic algorithm, Thin Solid Films, 467, 319-325.
  6. Golikova, O. A. et al., (1997). Physics and Astronomy Semiconductors,Volume 31, Number 7, 691-694.
  7. Iakoubovskii, K. (2000) Optical Study of Defects in Diamond, PhD. Thesis, University of Leuven.
  8. Kessels, W. M. M. (2000). Remote Plasma Deposition of Hydrogenated Amorphous Silicon: Plasma Processes, Film Growth, and the Material Properties, PhD. Thesis, Eindhoven University of Technology.

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

-

Bölüm

-

Yazarlar

Tayyar Güngör Bu kişi benim

Guy J. Adrıaenssens Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi

1 Haziran 2011

Gönderilme Tarihi

19 Aralık 2015

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2011 Cilt: 2 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA
Güngör, T., & Adrıaenssens, G. J. (2011). Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 2(1), 40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF
AMA
1.Güngör T, Adrıaenssens GJ. Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. MAKUFEBED. 2011;2(1):40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF
Chicago
Güngör, Tayyar, ve Guy J. Adrıaenssens. 2011. “Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi”. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 2 (1): 40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF.
EndNote
Güngör T, Adrıaenssens GJ (01 Haziran 2011) Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 2 1 40–49.
IEEE
[1]T. Güngör ve G. J. Adrıaenssens, “Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi”, MAKUFEBED, c. 2, sy 1, ss. 40–49, Haz. 2011, [çevrimiçi]. Erişim adresi: https://izlik.org/JA26EF95TF
ISNAD
Güngör, Tayyar - Adrıaenssens, Guy J. “Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi”. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 2/1 (01 Haziran 2011): 40-49. https://izlik.org/JA26EF95TF.
JAMA
1.Güngör T, Adrıaenssens GJ. Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. MAKUFEBED. 2011;2:40–49.
MLA
Güngör, Tayyar, ve Guy J. Adrıaenssens. “Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi”. Mehmet Akif Ersoy Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, c. 2, sy 1, Haziran 2011, ss. 40-49, https://izlik.org/JA26EF95TF.
Vancouver
1.Tayyar Güngör, Guy J. Adrıaenssens. Alttaş sıcaklığının expanding thermal plazma yöntemi ile elde edilen a-Si:H filmlerin optik ve elektriksel özellikleri üzerine etkisi. MAKUFEBED [Internet]. 01 Haziran 2011;2(1):40-9. Erişim adresi: https://izlik.org/JA26EF95TF