Sol
jel metodu ile elde edilen çözeltiler kullanılarak, spin kaplama tekniği ile
Lantan (La) katkılı çinko oksit (ZnO) filmleri p-tipi silisyum (p-Si) alttaşlar üzerine elde edilmiştir. Elde edilen ZnO filmlerinin
morfolojik, yapısal ve optik özellikleri üzerine Lantan katkısının etkisi
araştırılmıştır. Filmlerin XRD spektrumları, X-ışınları toz kırınım cihazı ile
alınmıştır. Bütün filmlerin (002) tercihli yönelime sahip olduğu belirlenmiştir.
Ortalama tanecik boyutu, tane sınırları ve filmlerin yüzey durumlarının araştırılması
amacıyla, filmlerin SEM görüntüleri çekilmiştir. SEM görüntülerinden, filmlerin
nanoyapıda oluştuğu, birbirinden çok farklı yüzeyler oluşmadığı; yani, katkı
ile birlikte belirgin bir değişiklik olmadığı gözlenmiştir. La katkılı ZnO filmlerinin diffüz yansıma spektrumları UV-vis
spektrofotometre kullanılarak alınmıştır. Bu spektrumlar kullanılarak iki
farklı yöntemle optik bant aralık değerleri hesaplanmıştır.
Birincil Dil | Türkçe |
---|---|
Bölüm | Makaleler |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 31 Aralık 2018 |
Gönderilme Tarihi | 10 Ekim 2018 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2018 Cilt: 5 Sayı: 9 |