Bor katkısının CdS filmlerin yapısal, yüzeysel, optik ve elektriksel özellikleri üzerindeki etkisi tartışılmıştır. Bor katkılı ince filmler, 300±5°C’de ultrasonik sprey piroliz tekniği ile kadmiyum klorid (CdCl2; 0.05M), tiyüre (CS(NH2)2; 0.05M) ve borik asit (H3BO3; 0.05M) sulu çözeltisi kullanılarak payreks cam üzerine çöktürülerek elde edilmişlerdir. Çöktürülen ince filmlerin optik, elektriksel, yapısal ve yüzey özellikleri UV spektrofotometre, dört prob tekniği, SEM, AFM ve XRD ile incelenmiştir. X-ışını kırınımı çalışması, filmlerin düşük boron katkıları için (011) düzleminde tercihli yönelmeye polikristalin olduğunu göstermektedir. Bununla birlikte, tercihli yönelme (002) olarak değişmiştir. Bor konsantrasyonu arttıkça tane boyu da artmıştır. Katkısız ve bor katkılı CdS ince filmlerin optik bant aralıkları 2.39-2.46 eV aralığında bulunmuştur. Tane boyutu dağılımı 30.8-115.4 nm aralığında elde edilmiştir.
Yarı İletken Filmler Bor Katkılı CdS Filmler Fotovoltaik Güneş Pili
Birincil Dil | Türkçe |
---|---|
Bölüm | Makaleler |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 31 Ağustos 2018 |
Gönderilme Tarihi | 21 Ağustos 2017 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2018 Cilt: 18 Sayı: 2 |
Bu eser Creative Commons Atıf-GayriTicari 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.