Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu

Yusuf Kaygısız

Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu

Öz

Anahtar Kelimeler

Doğrusal katılaştırma,Alüminyum alaşımlar,Mikroyapı,Ötektik mesafeler

Kaynakça

Ref

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

-

Bölüm

Araştırma Makalesi

Yazarlar

Yusuf Kaygısız ^* Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi

1 Eylül 2017

Gönderilme Tarihi

20 Aralık 2016

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2017 Cilt: 8 Sayı: 4

IZ

https://izlik.org/JA24AC53UD

Kaynak Göster

RIS / Bibtex

APA

Kaygısız, Y. (2017). Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu. Dicle Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Mühendislik Dergisi, 8(4), 723-731. https://izlik.org/JA24AC53UD

AMA

1.Kaygısız Y. Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu. DÜMF MD. 2017;8(4):723-731. https://izlik.org/JA24AC53UD

Chicago

Kaygısız, Yusuf. 2017. “Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu”. Dicle Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Mühendislik Dergisi 8 (4): 723-31. https://izlik.org/JA24AC53UD.

EndNote

Kaygısız Y (01 Eylül 2017) Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu. Dicle Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Mühendislik Dergisi 8 4 723–731.

IEEE

[1]Y. Kaygısız, “Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu”, DÜMF MD, c. 8, sy 4, ss. 723–731, Eyl. 2017, [çevrimiçi]. Erişim adresi: https://izlik.org/JA24AC53UD

ISNAD

Kaygısız, Yusuf. “Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu”. Dicle Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Mühendislik Dergisi 8/4 (01 Eylül 2017): 723-731. https://izlik.org/JA24AC53UD.

JAMA

1.Kaygısız Y. Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu. DÜMF MD. 2017;8:723–731.

MLA

Kaygısız, Yusuf. “Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu”. Dicle Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Mühendislik Dergisi, c. 8, sy 4, Eylül 2017, ss. 723-31, https://izlik.org/JA24AC53UD.

Vancouver

1.Yusuf Kaygısız. Doğrusal katılaştırılmış Al-%13ağ.Mg2Si alaşımının mikroyapı karakterizasyonu. DÜMF MD [Internet]. 01 Eylül 2017;8(4):723-31. Erişim adresi: https://izlik.org/JA24AC53UD