Bu çalışmada, bir termoelektrik modülün soğutma performansını gösteren kalite faktörü (figure of merit - Z) parametresinin belirlenmesi için termoemk, gerilim ve sıcak yüzeyin sıcaklığının ölçümüne dayalı yeni bir yöntem kullanılmıştır. Bu yönteme göre çalışan yeni bir mikrodenetleyici test sistemi gerçekleştirilmiştir. Yeni test sistemiyle Melcor firmasının ürettiği standart (CP 1.4-127-10L) modülün Z değeri ölçülmüştür. Bu değerler Melcor tarafından verilen Z değerleri ile kıyaslanmıştır. Bu değerler birbirine oldukça yakın çıkmıştır.
In this study, a new method for the measurement of figure of merit, Z, of a thermoelectric module has been
introduced. The new method depends on the measurement of thermoemf, voltage and hot side temperature of the
module. A new microcontroller test system has been designed and realized using this new method. Then, the
realized new test system has been used to measure the Z of a standard thermoelectric module (Melcor CP
1.4-127-10L). Measured values have been found to be in close range with the manufacturer’s catalog data.
Figure of Merit Measurement test system Peltier Module method
Birincil Dil | Türkçe |
---|---|
Konular | Mimarlık |
Bölüm | Makaleler |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 1 Mart 2013 |
Gönderilme Tarihi | 30 Mayıs 2014 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2004 Cilt: 19 Sayı: 4 |