Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı

Salim Çınar

doi:10.29109/gujsc.449163

Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı

Öz

Lojik devre laboratuvarı Elektrik-Elektronik Mühendisliği bölümü için önemli laboratuvarlardan bir tanesidir. Entegreler deneyler sırasında doğru bir şekilde çalışmalıdır. Entegre devrelerin düzgün çalışıp çalışmadığını test etmek için bir devre kurmak zor ve zaman alıcıdır. Bu çalışmada, entegre test cihazı entegre devrelerin hızlı ve doğru bir şekilde test edilmesi için tasarlanmıştır. Entegre test cihazını kullanmak kolay ve basittir. Entegreleri zif-sokete takmak yeterlidir. Test devresi, entegrelerin düzgün çalışıp çalışmadığını LCD ekranda göstermektedir. Entegre test cihazının prototipi üretilerek Lojik devre laboratuvarında kullanılmıştır. Laboratuvar personelinin deneme ve yorumları, entegre test devresinin laboratuvarlarda güvenle kullanılabileceğini göstermektedir.

Anahtar Kelimeler

Tasarım,Entegre test devresi,Mikrodenetleyici

Kaynakça

[1] A. Akgül, M. K. Uçar, M. M. Öztürk, ve Z. Ekşi̇, “Mühendislik Eğitiminin İyileştirilmesine Yönelik Öneriler, Geleceğin Mühendisleri ve İşgücü Analizi”, Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilim. Enstitüsü Derg., c. 17, sy 1, 2013.
[2] E. Can, “Laboratuvar Çalışmalarının Bilgisayar Mühendisliği Eğitimindeki Yeri ve Önemi”, Elektr. MÜHENDİSLİĞİ, sy 430, ss. 94-96, 2007.
[3] C. S. Lee, J. H. Su, K. E. Lin, J. H. Chang, ve G. H. Lin, “A Project-Based Laboratory for Learning Embedded System Design With Industry Support”, IEEE Trans. Educ., c. 53, sy 2, ss. 173-181, May. 2010.
[4] L. A. Ajao, J. Agajo, J. G. Kolo, M. A. Adegboye, ve Y. Yusuf, “Learning of Embedded System Design, Simulation and Implementation: A Technical Approach”, Am. J. Embed. Syst. Appl., c. 3, sy 3, s. 35, May. 2016.
[5] M. Özcan ve H. Günay, “Mikrodenetleyici geliştirme seti tasarım ve uygulamaları”, Design and applications development kit microcontroller, 2009.
[6] “PIC18F452 - Microcontrollers and Processors - Microcontrollers and Processors”, 23-Tem-2018. [Çevrimiçi]. Erişim adresi: https://www.microchip.com/wwwproducts/en/PIC18F452. [Erişim: 23-Tem-2018].
[7] “KiCad EDA”. [Çevrimiçi]. Erişim adresi: http://kicad-pcb.org/. [Erişim: 25-Tem-2018].
[8] “MPLAB- X IDE | Microchip Technology”. [Çevrimiçi]. Erişim adresi: http://www.microchip.com/mplab/mplab-x-ide. [Erişim: 26-Tem-2018].

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

Mühendislik

Bölüm

Araştırma Makalesi

Yazarlar

Salim Çınar ^*
0000-0002-3653-6291
Türkiye

Yayımlanma Tarihi

24 Mart 2019

Gönderilme Tarihi

30 Temmuz 2018

Kabul Tarihi

13 Ocak 2019

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2019 Cilt: 7 Sayı: 1

DOI

https://doi.org/10.29109/gujsc.449163

IZ

https://izlik.org/JA93LP83YE

Kaynak Göster

RIS / Bibtex

APA

Çınar, S. (2019). Lojik Devre Laboratuvarları için Entegre Test Devresi Tasarımı. Gazi Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi Part C: Tasarım ve Teknoloji, 7(1), 165-174. https://doi.org/10.29109/gujsc.449163

Cited By

Logic And Gate Design With The Internet Of Things (IOT)

Bitlis Eren Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi

https://doi.org/10.17798/bitlisfen.1771205