Bu çalışmada, elektrik dağıtım sisteminde güç kalitesi problemlerinden biri olan gerilim düşümlerini kaydetmek için gerekli olan minimum sayıdaki monitörün yerleşim planını elde etme amaçlanmıştır. IEEE 24-bus, IEEE 30-bus, IEEE 118-bus ve IEEE 50 jeneratör 145-bus test sistemlerinde üç fazlı arızaların sistem boyunca yarattığı voltaj düşümleri hesaplanmıştır. Düşük voltaj değerleri voltaj eşik değeri ile karşılaştırılarak hangi baralarda monitör gerektiği bilgisi çıkartılmıştır. Elde edilen monitör yerleşim planındaki monitör sayısı ikili tamsayılı programlama ve genetik algoritma kullanılarak minimize edilmeye çalışılmıştır. Optimize edilmiş yerleşim planları tablolar halinde sunulmuştur. Simülasyon sonuçları dikkate alındığında bara sayısının göreceli az olduğu IEEE 24-bus, IEEE 30-bus test sistemlerinde genetik algoritmanın ikili tamsayılı programlama ile benzer performansa sahiptir. Ancak, IEEE 118-bus ve IEEE 50 jeneratör 145-bus test sistemlerinde bara sayısı arttıkça genetik algoritmanın monitör sayısını minimize etmekteki performansının düştüğü görülmüştür. Bununla beraber genetik algoritmanın ikili tamsayılı programlama ile elde edilemeyen farklı yerleşim planları elde edilebildiği görülmüştür.
Güç Kalitesi Simetrik Arızalar İkili Tamsayılı Programlama Genetik Algoritma
Birincil Dil | Türkçe |
---|---|
Konular | Elektrik Mühendisliği |
Bölüm | Araştırma Makaleleri |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 31 Ağustos 2021 |
Gönderilme Tarihi | 6 Ağustos 2021 |
Kabul Tarihi | 16 Ağustos 2021 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2021 Cilt: 6 Sayı: 2 |