Detection and Classification of Fabric Defects Using Deep Learning Algorithms
Öz
Anahtar Kelimeler
Kaynakça
- [1] Gezer D., “Marka Değeri Yaratılması ve Konfeksiyon / Hazır giyim Sektöründe Bir Örnek Olay İncelemesi,” Yüksek Lisans, İstanbul Üniversitesi, Sosyal Bilimler Enstitüsü, İstanbul, (2006).
- [2] Ciklacandir F. G. Y., “Kumaşlarda Hatayı Yerel Olarak Arayan Denetimsiz Bir Sistem”,Tekstil ve Mühendis, 27:(120),252- 259, (2020).
- [3] Devrim A., “Dokuma Üretimi Süresince Oluşan Kumaş Hatalarının Belirlenmesine Yönelik İstatistiksel Bir Araştırma,” Pamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi, 21, 282-287, (2015).
- [4] Güvenoğlu E., “Shearlet Dönüşümü ve Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Kot Kumaşlar Üzerinde Gerçek Zamanlı Hata Tespiti” , El-Cezerî Fen ve Mühendislik Dergisi, 491-502, (2019).
- [5] Pınar Z., “Denim Kumaşlarda Görüntü İşleme İle Hata Tespiti”, BEÜ Fen Bilimleri Dergisi, 1609-1620,(2020).
- [6] Ding S., Li C. and Liu Z., “Fabric Defect Detection Scheme Based on Gabor filter and PCA” Advanced Materials Research, 482-484, (2012).
- [7] Zhang H., Hu J. and He Z., “Fabric defect detection based on visual saliency map and SVM” Journal of Intelligent Manufacturing, 28:(6),1329-1338,(2017).
- [8] Gupta N., Mishra S. and Khanna P., “Glioma identification from brain MRI using superpixels and FCM clustering,” International Journal of Engineering & Technology, 7:(3.30), 115-119, (2018).
Ayrıntılar
Birincil Dil
İngilizce
Konular
Derin Öğrenme
Bölüm
Araştırma Makalesi
Yazarlar
Recep Ali Geze
0000-0002-8731-6803
Türkiye
Ayhan Akbaş
*
0000-0002-6425-104X
United Kingdom
Erken Görünüm Tarihi
18 Ocak 2024
Yayımlanma Tarihi
29 Şubat 2024
Gönderilme Tarihi
5 Kasım 2023
Kabul Tarihi
22 Aralık 2023
Yayımlandığı Sayı
Yıl 2024 Cilt: 27 Sayı: 1
Cited By
Fabric surface defect classification and systematic analysis using a cuckoo search optimized deep residual network
Engineering Science and Technology, an International Journal
https://doi.org/10.1016/j.jestch.2024.101681Research on Fabric Defect Detection Algorithm Based on Improved YOLOv8n Algorithm
Electronics
https://doi.org/10.3390/electronics13112009