Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması

Cilt: 12 Sayı: 2 1 Haziran 2009
  • Çetin Gençer
PDF İndir
TR EN

Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması

Öz

Bu çalışmada; PIC16F876 mikrodenetleyici tabanlı bir gerçek etkin değer ölçüm sistemi uygulaması yapılmıştır. Güç kontrol sistemlerinde, alternatif gerilimin etkin değerine ulaşmak önemli bir husustur. Yüke uygulanan gerilimin sinüsoidal olması durumunda, gerilimin ölçülmesi ve değerlendirme birimine aktarılması basit devre düzenlemeleri ile gerçekleştirilebilir. Ancak; sinüs sinyalinin şeklindeki bozulmalar veya sinüs sinyalin faz açısına bağlı kontrol çalışmalarında, yüke aktarılan gerilimi ölçmek ve değerlendirme birimine aktarmak sorun haline gelmektedir. Özellikle faz açısına bağlı güç kontrol devrelerinde, çıkışta elde edilen gerilimin kararlı olması aranan bir özelliktir. Bu tür sistemlerde kararlı bir çıkış gerilimi elde etmek, olduğunca hızlı ve doğru ölçüm sonuçları ile mümkündür. Bu çalışmanın amacı, faz açısına bağlı kontrol sistemlerinde kullanılabilecek, ortalama % 0,4 hassasiyetle ölçüm yapabilen, yüksek güç uygulamalarında kullanmaya elverişli, mikrodenetleyici tabanlı bir gerçek etkin değer ölçme sistemi geliştirmektir.

Anahtar Kelimeler

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

-

Bölüm

-

Yazarlar

Çetin Gençer Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi

1 Haziran 2009

Gönderilme Tarihi

1 Haziran 2009

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2009 Cilt: 12 Sayı: 2

Kaynak Göster

APA
Gençer, Ç. (2009). Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi, 12(2), 79-84. https://izlik.org/JA39ZT38BD
AMA
1.Gençer Ç. Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi. 2009;12(2):79-84. https://izlik.org/JA39ZT38BD
Chicago
Gençer, Çetin. 2009. “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”. Politeknik Dergisi 12 (2): 79-84. https://izlik.org/JA39ZT38BD.
EndNote
Gençer Ç (01 Haziran 2009) Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi 12 2 79–84.
IEEE
[1]Ç. Gençer, “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”, Politeknik Dergisi, c. 12, sy 2, ss. 79–84, Haz. 2009, [çevrimiçi]. Erişim adresi: https://izlik.org/JA39ZT38BD
ISNAD
Gençer, Çetin. “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”. Politeknik Dergisi 12/2 (01 Haziran 2009): 79-84. https://izlik.org/JA39ZT38BD.
JAMA
1.Gençer Ç. Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi. 2009;12:79–84.
MLA
Gençer, Çetin. “Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması”. Politeknik Dergisi, c. 12, sy 2, Haziran 2009, ss. 79-84, https://izlik.org/JA39ZT38BD.
Vancouver
1.Çetin Gençer. Mikrodenetleyici Tabanlı Bir Gerçek Etkin Değer Ölçüm Sistemi Uygulaması. Politeknik Dergisi [Internet]. 01 Haziran 2009;12(2):79-84. Erişim adresi: https://izlik.org/JA39ZT38BD
 
TARANDIĞIMIZ DİZİNLER (ABSTRACTING / INDEXING)
181341319013191 13189 13187 13188 18016 

download Bu eser Creative Commons Atıf-AynıLisanslaPaylaş 4.0 Uluslararası ile lisanslanmıştır.