MS Yapısında Ara Yüzey Durumları ve Seri Dirence Bağlı Sıcaklık ve Frekansın Elektriksel Karakterizasyonlar Üzerine Etkisi

Yıl 2017, Cilt: 20 Sayı: 2, 313 - 318, 01.06.2017

Barış Kınacı

Öz

Ni/Au/n–Si yapısının akım–voltaj, kapasitans–voltaj ve kondüktans–voltaj karakteristikleri cihazın seri direnç ve ara yüzey
durumlarının deneysel etkilerini incelemek için incelendi. Yapının akım–voltaj karakteristikleri 100K–380K sıcaklıkları aralığında
40K lik artışlarla ölçüldü. Ayırca, yapının kapasitans–voltaj ve kondüktans–voltaj karakteristikleri 100kHz–1MHz aralığında oda
sıcaklığında ölçüldü. Elde edilen sonuçlar Ni/Au/n–Si yapısının elektronik cihaz uygulamaları için iyi bir aday olduğunu
göstermiştir.

Anahtar Kelimeler

MS Yapı, Ni/Au Metal Kontak, Elektriksel Karakterizasyonlar

Effect on the Electrical Characterizations of Temperature and Frequency Depending on Series Resistance and Interface States in MS Structure

Öz

In order to explain the experimental effect of series resistance and interface states of device on current–voltage, capacitance–voltage and conductance–voltage characteritics of Ni/Au/n–Si structure have beeen investigated. Current–voltage characteritics of structure have beeen measuremed in the temperature range of 100K–380K by steps of 40K. In addition, capacitance–voltage and conductance–voltage characteristics of structure have beeen measuremed in the frequency range of 100kHz–1MHz at room temperature. The obtained results show that the Ni/Au/n–Si structure is a good candidate for the electronic device applications

Anahtar Kelimeler

MS Structure, Ni/Au Metal Contact, Electrical Characterizations