A Leaf Area Estimation Model for Faba Bean (Vicia faba L.) Grown in the Mediterranean Type of Climate
Öz
Determination of leaf area index is an important parameter for assessing carbon exchange
and light interception and transmission from the leaf. A simple and quick leaf area estimation model
for faba bean (Vicia faba L.) was developed by using the leaflet length (L) and width (W). The
proposed leaf area (LA) estimation model is LA= -1,6923 + (L*0,0161) + (W*0,0929) +
(0,0062*L*W), where LA is leaf area (cm2), L is leaflet length (cm), W is the leaflet width (cm). A
standard method (Model MK2, Eijkelkamp Inc., Giesbeek, The Netherlands) 3050C) was used to
compare the estimated leaf area with the actual measured leaf area. As a result of regression analysis,
performed with 26 faba bean genotypes, parameters responsible for the variation in leaf area values
produced the determination coefficient (R2) of 97,59%. None significant differences between
observed and predicted LA showed that the suggested model can be used for faba bean regardless of
the expensive instruments.
Anahtar Kelimeler
Akdeniz Bölgesinde Yetiştirilen Bakla (Vicia Faba L.) Bitkisi İçin Bir Yaprak Alani Tahmin Modeli
Öz
Yaprak alanı indeksinin belirlenmesi yaprakların karbon alışverişi, tutulan ve geçirilen ışık
miktarının belirlenmesi için önemli bir parametredir. Bakla (Vicia faba L.) için basit ve hızlı bir
yaprak alanı tahmin modeli, yaprakçık uzunluğu (L) ve yaprakçık eni (W) kullanılarak geliştirildi.
Geliştirilen yaprak alanı tahmin modeli LA= =-1,6923 + (L* 0,0161) + (W*0,0929) + (0,0062*L*W)
şeklindedir. Bu modelde LA yaprak alanını (cm2), L yaprakçık uzunluğunu (cm) ve W yaprakçık enini
(cm) göstermektedir. Tahmin edilen yaprak alanı ile ölçülen yaprak alanını karşılaştırmak amacıyla
standart bir yöntem (Model MK2, Eijkelkamp Inc., Giesbeek, The Netherlands) 3050C) kullanıldı. 26
bakla genotipine ait veriler kullanılarak elde edilen regresyon analizi sonucunda, yaprak alanındaki
varyasyondan sorumlu parametreler %97,59 olan belirleme katsayısını (R2) ortaya çıkarmıştır.
Ölçülen ve tahmin edilen yaprak alanları arasındaki önemli olmayan farklılıklar, bu modelin pahalı
yaprak alanı cihazlarına gereksinim duymadan kullanılabileceğini göstermiştir.
Anahtar Kelimeler
