In electron beam treatment, various calculation algorithms have been described for the change of dose disturbation and profiles caused by surface disorders and different source-skin-distance. The main issue of those algorithms is the necessity of dose profile changing measurement for each machine. The aim of this study was to experimentally assess the output values which were obtained by calculating the algorithms. The output scores for 6, 9, 12 and 15 MeV electron beams were obtained in different source-skin-distance as well as in different field sizes. Results were compared with the values which were obtained by using effective SSD method. When the output values were compared, the percentage difference in small field sizes was found to be more. Due to the reduction of field size and energy, the effective SSD is reduced. In higher energies, the measured dose is higher because of the high amount of scattering electrons. In particular for small field sizes and low energies, the effective SSD method gains more importance. Hence, in small fields and low energies, depending upon variable SSD, measurements should be done and gap correcting factors should be detected for each linear accelerator and air correcting factor should be used in Monitor Unit (MU) calculation.
Electron beam SSD Extended Source-to-surface distance Electron dosimetry Monitor Unit
Elektron demetlerinde yüzey düzensizliği ve farklı kaynak yüzey mesafelerinde (SSD Source to Skin Distance) doz dağılımındaki ve profilindeki değişimi öngören değişik hesaplama algoritmaları tanımlanmıştır. Bu algoritmaların temel önerisi her cihazın doz profil değişiminin ölçülmesi gerektiğidir. Bu çalışmada hesaplama algoritmaları ile elde edilen output değerlerini deneysel olarak ölçerek kontrol etmeyi amaçladık. Çalışmamızda 6,9,12 ve 15 MeV elekron huzmelerinde farklı SSD'lerde farklı alan boyutlarında output değerleri ölçüldü. Bu değerler ile Efektif SSD yöntemine göre hesaplanan kuramsal değerlerle karşılaştırıldı. Output değerleri incelendiğinde küçük alanlarda yüzde farkın fazla olduğu görülmektedir. Enerji ve alan boyutu küçüldükçe etkin SSD değeri küçülmektedir. Yüksek enerjilerde saçılan elektronların fazla olması sebebiyle oluşan doz daha yüksek ölçülür. Sonuç olarak özellikle küçük alan ve düşük enerjilerde etkin SSD bulma yöntemi daha fazla önem kazanmaktadır. Bu nedenle küçük alan ve düşük enerjilerde değişen SSD'ye bağlı olarak her cihaz için ölçümler alınıp düzeltme faktörleri saptanmalı ve Monitör Unit (MU) hesaplamasında düzeltme faktörünün kullanımı gerekmektedir.
Elektron ışını SSD Uzatılmış kaynak yüzey mesafesi Elektron dozimetrisi Monitör Unit
Diğer ID | JA89RE55HA |
---|---|
Bölüm | Özgün Araştırma Makaleleri |
Yazarlar | |
Yayımlanma Tarihi | 1 Mart 2011 |
Yayımlandığı Sayı | Yıl 2011 Cilt: 37 Sayı: 1 |
Journal of Uludag University Medical Faculty is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.