Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi

Volume: 22 Number: 1 April 16, 2018

Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi

Abstract

Bir elektronik devrenin fiziksel gerçeklemesi, bir elektronik kartın Baskı Devresini (PCB) delme işlemini gerektirir. Delinecek deliklerin konumlarının ve konum sırasının ise bu işlemi yerine getirecek Kontrol Sistemi tarafından bilinmesi gerekir. Bu çalışmada, bu işlemin düşük maliyetle ve hızlı bir biçimde gerçekleştirilebilmesi için gerekli bilgileri bir kontrol sistemine sağlayacak yöntemler ele alınmaktadır. Bu bilgiler, PCB üzerine yerleştirilecek elektronik devre elemanlarının konumları ve bu konumları içeren en kısa güzergâhtır. Konumlar, bilgisayar ortamındaki iki-boyutlu PCB görüntüsüne Görüntü İşleme teknikleri uygulanarak tespit edilir. Kontrol sisteminin takip edeceği en kısa güzergâh ise Genetik Algoritmalar ve Yerel Arama tabanlı melez bir algoritma ile Gezgin Satıcı Problemi çözülerek belirlenir. Önerilen bütünleşik yöntem bilgisayar benzetimleri ile desteklenmiş ve tüm delik konumlarını içeren çok daha kısa güzergâhlar elde edilmiştir.

Keywords

References

  1. [1] Yıldırım, A. 2003. CNC baskı devre delme makinesi-maximus projesi. Hacettepe Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Bitirme Projesi, Ankara.
  2. [2] Orhan, A. 1994. Bilgisayar kontrollü, programlanabilir baskılı devre matkap tezgahı. Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi, 102s, İstanbul.
  3. [3] Mehmetcik, S. 2010. Optoelektronik yöntemlerle cisim tanıma. Marmara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi, 69s, İstanbul.
  4. [4] Aslantaş, A. 2006. Ağaç kesitindeki yıllık halkaların görüntü işleme yöntemi ile incelenmesi. Süleyman Demirel Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi, 60s, Isparta.
  5. [5] Kalaycı, A. G., Altuğ, H., Özkorucuklu, S. 2013. Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi, 3(5), 13-18.
  6. [6] Altınkurt, Ö., Kahriman, M. 2011. Gerçek Zamanlı Olarak, Anfis ile Renk Tabanlı Nesne Tespit ve Motorlu Sistem ile Takip Edilmesi. SDU Teknik Bilimler Dergisi, 1(1), 1-5.
  7. [7] Peker, M., Zengin, A. 2011. Gerçek Zamanlı Harekete Duyarlı Bir Görüntü Tanıma Sistemi. 6th International Advanced Technologies Symposium (IATS’11), 16-18 May, Elazığ, 92-97.
  8. [8] Çayıroğlu, İ., Şimşir, M. 2008. Pıc ve Step Motorla Sürülen Bir Mobil Robotun Uzaktan Kamera Sistemi ile Kontrolü. Erciyes Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 24(1-2), 1-16.

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

-

Journal Section

-

Publication Date

April 16, 2018

Submission Date

December 12, 2016

Acceptance Date

-

Published in Issue

Year 2018 Volume: 22 Number: 1

APA
Karakoç, M. (2018). Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 22(1), 336-345. https://doi.org/10.19113/sdufbed.39274
AMA
1.Karakoç M. Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. J. Nat. Appl. Sci. 2018;22(1):336-345. doi:10.19113/sdufbed.39274
Chicago
Karakoç, Mehmet. 2018. “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi Ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar Ile Eniyilemesi”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 22 (1): 336-45. https://doi.org/10.19113/sdufbed.39274.
EndNote
Karakoç M (April 1, 2018) Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 22 1 336–345.
IEEE
[1]M. Karakoç, “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi”, J. Nat. Appl. Sci., vol. 22, no. 1, pp. 336–345, Apr. 2018, doi: 10.19113/sdufbed.39274.
ISNAD
Karakoç, Mehmet. “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi Ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar Ile Eniyilemesi”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 22/1 (April 1, 2018): 336-345. https://doi.org/10.19113/sdufbed.39274.
JAMA
1.Karakoç M. Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. J. Nat. Appl. Sci. 2018;22:336–345.
MLA
Karakoç, Mehmet. “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi Ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar Ile Eniyilemesi”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, vol. 22, no. 1, Apr. 2018, pp. 336-45, doi:10.19113/sdufbed.39274.
Vancouver
1.Mehmet Karakoç. Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. J. Nat. Appl. Sci. 2018 Apr. 1;22(1):336-45. doi:10.19113/sdufbed.39274

Cited By

e-ISSN :1308-6529
Linking ISSN (ISSN-L): 1300-7688

All published articles in the journal can be accessed free of charge and are open access under the Creative Commons CC BY-NC (Attribution-NonCommercial) license. All authors and other journal users are deemed to have accepted this situation. Click here to access detailed information about the CC BY-NC license.