Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi

Cilt: 22 Sayı: 1 16 Nisan 2018
PDF İndir

Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi

Öz

Bir elektronik devrenin fiziksel gerçeklemesi, bir elektronik kartın Baskı Devresini (PCB) delme işlemini gerektirir. Delinecek deliklerin konumlarının ve konum sırasının ise bu işlemi yerine getirecek Kontrol Sistemi tarafından bilinmesi gerekir. Bu çalışmada, bu işlemin düşük maliyetle ve hızlı bir biçimde gerçekleştirilebilmesi için gerekli bilgileri bir kontrol sistemine sağlayacak yöntemler ele alınmaktadır. Bu bilgiler, PCB üzerine yerleştirilecek elektronik devre elemanlarının konumları ve bu konumları içeren en kısa güzergâhtır. Konumlar, bilgisayar ortamındaki iki-boyutlu PCB görüntüsüne Görüntü İşleme teknikleri uygulanarak tespit edilir. Kontrol sisteminin takip edeceği en kısa güzergâh ise Genetik Algoritmalar ve Yerel Arama tabanlı melez bir algoritma ile Gezgin Satıcı Problemi çözülerek belirlenir. Önerilen bütünleşik yöntem bilgisayar benzetimleri ile desteklenmiş ve tüm delik konumlarını içeren çok daha kısa güzergâhlar elde edilmiştir.

Anahtar Kelimeler

Kaynakça

  1. [1] Yıldırım, A. 2003. CNC baskı devre delme makinesi-maximus projesi. Hacettepe Üniversitesi, Mühendislik Fakültesi, Bitirme Projesi, Ankara.
  2. [2] Orhan, A. 1994. Bilgisayar kontrollü, programlanabilir baskılı devre matkap tezgahı. Yıldız Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi, 102s, İstanbul.
  3. [3] Mehmetcik, S. 2010. Optoelektronik yöntemlerle cisim tanıma. Marmara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi, 69s, İstanbul.
  4. [4] Aslantaş, A. 2006. Ağaç kesitindeki yıllık halkaların görüntü işleme yöntemi ile incelenmesi. Süleyman Demirel Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Yüksek Lisans Tezi, 60s, Isparta.
  5. [5] Kalaycı, A. G., Altuğ, H., Özkorucuklu, S. 2013. Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi, 3(5), 13-18.
  6. [6] Altınkurt, Ö., Kahriman, M. 2011. Gerçek Zamanlı Olarak, Anfis ile Renk Tabanlı Nesne Tespit ve Motorlu Sistem ile Takip Edilmesi. SDU Teknik Bilimler Dergisi, 1(1), 1-5.
  7. [7] Peker, M., Zengin, A. 2011. Gerçek Zamanlı Harekete Duyarlı Bir Görüntü Tanıma Sistemi. 6th International Advanced Technologies Symposium (IATS’11), 16-18 May, Elazığ, 92-97.
  8. [8] Çayıroğlu, İ., Şimşir, M. 2008. Pıc ve Step Motorla Sürülen Bir Mobil Robotun Uzaktan Kamera Sistemi ile Kontrolü. Erciyes Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 24(1-2), 1-16.

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

-

Bölüm

-

Yayımlanma Tarihi

16 Nisan 2018

Gönderilme Tarihi

12 Aralık 2016

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2018 Cilt: 22 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA
Karakoç, M. (2018). Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 22(1), 336-345. https://doi.org/10.19113/sdufbed.39274
AMA
1.Karakoç M. Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 2018;22(1):336-345. doi:10.19113/sdufbed.39274
Chicago
Karakoç, Mehmet. 2018. “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 22 (1): 336-45. https://doi.org/10.19113/sdufbed.39274.
EndNote
Karakoç M (01 Nisan 2018) Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 22 1 336–345.
IEEE
[1]M. Karakoç, “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi”, Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg., c. 22, sy 1, ss. 336–345, Nis. 2018, doi: 10.19113/sdufbed.39274.
ISNAD
Karakoç, Mehmet. “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 22/1 (01 Nisan 2018): 336-345. https://doi.org/10.19113/sdufbed.39274.
JAMA
1.Karakoç M. Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 2018;22:336–345.
MLA
Karakoç, Mehmet. “Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, c. 22, sy 1, Nisan 2018, ss. 336-45, doi:10.19113/sdufbed.39274.
Vancouver
1.Mehmet Karakoç. Baskılı Devre Kartlarındaki Delik Alanlarının Görüntü İşleme Teknikleri Kullanılarak Tespit Edilmesi ve Potansiyel Delim Güzergâhının Genetik Algoritmalar ile Eniyilemesi. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 01 Nisan 2018;22(1):336-45. doi:10.19113/sdufbed.39274

Cited By

e-ISSN :1308-6529
Linking ISSN (ISSN-L): 1300-7688

Dergide yayımlanan tüm makalelere ücretiz olarak erişilebilinir ve Creative Commons CC BY-NC Atıf-GayriTicari lisansı ile açık erişime sunulur. Tüm yazarlar ve diğer dergi kullanıcıları bu durumu kabul etmiş sayılırlar. CC BY-NC lisansı hakkında detaylı bilgiye erişmek için tıklayınız.