Araştırma Makalesi

İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme

Cilt: 24 Sayı: 1 20 Nisan 2020
PDF İndir
EN TR

İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme

Öz

Tekstil sektörü, hızla gelişen ve Türkiye ihracatının büyük kısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinin dış piyasa ile rekabet edebilmesi için ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplik kalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir. Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir.

Anahtar Kelimeler

Kaynakça

  1. [1] Goswami, B.C., Martindale, J.G., Scardino, F.L. 1977. Textile Yarns: Technology, Structure and Applications. John Wiley and Sons. New York, 482s.
  2. [2] Gries, T. and Veit, D. Wulfhorst, B. 2015. Textile Technology: An Introduction. Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG, 457s.
  3. [3] Nancy K. Clive, K. Slater. 1974. Simulation of the Electric Field in Evenness-Testing Capacitors, The Journal of The Textile Institute, 65(8), 397-401.
  4. [4] Carvalho, V., Pinto, J. G., Monteiro, J., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2003. On-line measurement of yarn evenness. IEEE International Symposium on Industrial Electronics, 9-11 Haziran, Brezilya, 1059-1064.
  5. [5] Pinto, J. G., Carvalho, V., Monteiro, J. L., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2007. Yarn-mass Measurement with 1-mm-length Samples. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 54(2), 1177-1183.
  6. [6] Gang, Y., Entao, Y., Shencun, H., Ning, J. 2016. The research on High Sensitivity and Anti-saturation of Capacitance Sensors for Measuring Yarn Evenness. 10th International Conference on Sensing Technology (ICST), 11-13 Kasım, Çin, 1-6.
  7. [7] Hoffmann, D. 1973. Measuring Capacitor. United States Patent, US3754172A, 1-4.
  8. [8] Geiter, P., Rolf, J. 1999. Methode and Device for Measuring the Solid Proportion of a Material Under Test. European Patent Office, EP0924513A1, 1-10.

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

Mühendislik

Bölüm

Araştırma Makalesi

Yayımlanma Tarihi

20 Nisan 2020

Gönderilme Tarihi

17 Mart 2019

Kabul Tarihi

27 Şubat 2020

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2020 Cilt: 24 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA
Gurkan, K. (2020). İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 24(1), 5-11. https://doi.org/10.19113/sdufenbed.541139
AMA
1.Gurkan K. İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 2020;24(1):5-11. doi:10.19113/sdufenbed.541139
Chicago
Gurkan, Koray. 2020. “İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 24 (1): 5-11. https://doi.org/10.19113/sdufenbed.541139.
EndNote
Gurkan K (01 Nisan 2020) İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 24 1 5–11.
IEEE
[1]K. Gurkan, “İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme”, Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg., c. 24, sy 1, ss. 5–11, Nis. 2020, doi: 10.19113/sdufenbed.541139.
ISNAD
Gurkan, Koray. “İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 24/1 (01 Nisan 2020): 5-11. https://doi.org/10.19113/sdufenbed.541139.
JAMA
1.Gurkan K. İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 2020;24:5–11.
MLA
Gurkan, Koray. “İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, c. 24, sy 1, Nisan 2020, ss. 5-11, doi:10.19113/sdufenbed.541139.
Vancouver
1.Koray Gurkan. İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniv. Fen Bilim. Enst. Derg. 01 Nisan 2020;24(1):5-11. doi:10.19113/sdufenbed.541139

Cited By

e-ISSN :1308-6529
Linking ISSN (ISSN-L): 1300-7688

Dergide yayımlanan tüm makalelere ücretiz olarak erişilebilinir ve Creative Commons CC BY-NC Atıf-GayriTicari lisansı ile açık erişime sunulur. Tüm yazarlar ve diğer dergi kullanıcıları bu durumu kabul etmiş sayılırlar. CC BY-NC lisansı hakkında detaylı bilgiye erişmek için tıklayınız.