Research Article

İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme

Volume: 24 Number: 1 April 20, 2020
EN TR

İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme

Abstract

Tekstil sektörü, hızla gelişen ve Türkiye ihracatının büyük kısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinin dış piyasa ile rekabet edebilmesi için ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplik kalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir. Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir.

Keywords

References

  1. [1] Goswami, B.C., Martindale, J.G., Scardino, F.L. 1977. Textile Yarns: Technology, Structure and Applications. John Wiley and Sons. New York, 482s.
  2. [2] Gries, T. and Veit, D. Wulfhorst, B. 2015. Textile Technology: An Introduction. Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG, 457s.
  3. [3] Nancy K. Clive, K. Slater. 1974. Simulation of the Electric Field in Evenness-Testing Capacitors, The Journal of The Textile Institute, 65(8), 397-401.
  4. [4] Carvalho, V., Pinto, J. G., Monteiro, J., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2003. On-line measurement of yarn evenness. IEEE International Symposium on Industrial Electronics, 9-11 Haziran, Brezilya, 1059-1064.
  5. [5] Pinto, J. G., Carvalho, V., Monteiro, J. L., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2007. Yarn-mass Measurement with 1-mm-length Samples. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 54(2), 1177-1183.
  6. [6] Gang, Y., Entao, Y., Shencun, H., Ning, J. 2016. The research on High Sensitivity and Anti-saturation of Capacitance Sensors for Measuring Yarn Evenness. 10th International Conference on Sensing Technology (ICST), 11-13 Kasım, Çin, 1-6.
  7. [7] Hoffmann, D. 1973. Measuring Capacitor. United States Patent, US3754172A, 1-4.
  8. [8] Geiter, P., Rolf, J. 1999. Methode and Device for Measuring the Solid Proportion of a Material Under Test. European Patent Office, EP0924513A1, 1-10.

Details

Primary Language

Turkish

Subjects

Engineering

Journal Section

Research Article

Publication Date

April 20, 2020

Submission Date

March 17, 2019

Acceptance Date

February 27, 2020

Published in Issue

Year 2020 Volume: 24 Number: 1

APA
Gurkan, K. (2020). İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, 24(1), 5-11. https://doi.org/10.19113/sdufenbed.541139
AMA
1.Gurkan K. İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. J. Nat. Appl. Sci. 2020;24(1):5-11. doi:10.19113/sdufenbed.541139
Chicago
Gurkan, Koray. 2020. “İplik Düzgünsüzlük Analizi Için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım Ve Gerçekleme”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 24 (1): 5-11. https://doi.org/10.19113/sdufenbed.541139.
EndNote
Gurkan K (April 1, 2020) İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 24 1 5–11.
IEEE
[1]K. Gurkan, “İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme”, J. Nat. Appl. Sci., vol. 24, no. 1, pp. 5–11, Apr. 2020, doi: 10.19113/sdufenbed.541139.
ISNAD
Gurkan, Koray. “İplik Düzgünsüzlük Analizi Için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım Ve Gerçekleme”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi 24/1 (April 1, 2020): 5-11. https://doi.org/10.19113/sdufenbed.541139.
JAMA
1.Gurkan K. İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. J. Nat. Appl. Sci. 2020;24:5–11.
MLA
Gurkan, Koray. “İplik Düzgünsüzlük Analizi Için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım Ve Gerçekleme”. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, vol. 24, no. 1, Apr. 2020, pp. 5-11, doi:10.19113/sdufenbed.541139.
Vancouver
1.Koray Gurkan. İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme. J. Nat. Appl. Sci. 2020 Apr. 1;24(1):5-11. doi:10.19113/sdufenbed.541139

Cited By

e-ISSN :1308-6529
Linking ISSN (ISSN-L): 1300-7688

All published articles in the journal can be accessed free of charge and are open access under the Creative Commons CC BY-NC (Attribution-NonCommercial) license. All authors and other journal users are deemed to have accepted this situation. Click here to access detailed information about the CC BY-NC license.