Konferans Bildirisi

Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop

Cilt: 3 Sayı: 1 18 Şubat 2013
  • Ahmet Kalaycı
  • Hüseyin Altuğ
  • Suat Özkorucuklu
PDF İndir
EN TR

Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop

Öz

Bu çalışmada, sayısal optik mikroskoplarda otomatik odaklama yapılmasını sağlayan elektronik devre kontrollü bir mekanik sistemin tasarımı ve görüntü işleme yazılımı ile birlikte gerçekleştirilmiştir. Çok noktadan kontrol yöntemi temeline dayanan bu sistem ile homojen yüksekliğe sahip olmayan objelerin incelenmesinde mikroskobun otomatik odaklanması sağlanmıştır. Objelerin şekillerine göre görüntü üzerinde belirlenen sabit on bir nokta aracılığı ile objenin şekline en uygun odaklama noktası belirlenir ve motorlu mekanizma ile mikroskobun Z eksenindeki konumu en uygun noktaya taşınır. Çalışmalar otomatik odaklama sisteminin %90 doğruluk ile çalıştığını göstermiştir.

Anahtar Kelimeler

Kaynakça

  1. Huang, C. C., 2001, High Speed Passive Autofocus Technique, Master Thesis, Department of Institute of Mechanical Engineering, Yuan-Ze University[2] Zamofing, T., Hügli, H., Applied multifocus 3D microscopy, SPIE Vol 5265-19,2003. [3] Tim Jackson, 2004, Nikon D70 Focus test chart, http://focustestchart.com/chart.html

Ayrıntılar

Birincil Dil

Türkçe

Konular

Mühendislik

Bölüm

Konferans Bildirisi

Yazarlar

Ahmet Kalaycı Bu kişi benim

Hüseyin Altuğ Bu kişi benim

Suat Özkorucuklu Bu kişi benim

Yayımlanma Tarihi

18 Şubat 2013

Gönderilme Tarihi

18 Şubat 2013

Kabul Tarihi

-

Yayımlandığı Sayı

Yıl 2013 Cilt: 3 Sayı: 1

Kaynak Göster

APA
Kalaycı, A., Altuğ, H., & Özkorucuklu, S. (2013). Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi, 3(1), 13-18. https://izlik.org/JA64UE82BU
AMA
1.Kalaycı A, Altuğ H, Özkorucuklu S. Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi. 2013;3(1):13-18. https://izlik.org/JA64UE82BU
Chicago
Kalaycı, Ahmet, Hüseyin Altuğ, ve Suat Özkorucuklu. 2013. “Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop”. Teknik Bilimler Dergisi 3 (1): 13-18. https://izlik.org/JA64UE82BU.
EndNote
Kalaycı A, Altuğ H, Özkorucuklu S (01 Şubat 2013) Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi 3 1 13–18.
IEEE
[1]A. Kalaycı, H. Altuğ, ve S. Özkorucuklu, “Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop”, Teknik Bilimler Dergisi, c. 3, sy 1, ss. 13–18, Şub. 2013, [çevrimiçi]. Erişim adresi: https://izlik.org/JA64UE82BU
ISNAD
Kalaycı, Ahmet - Altuğ, Hüseyin - Özkorucuklu, Suat. “Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop”. Teknik Bilimler Dergisi 3/1 (01 Şubat 2013): 13-18. https://izlik.org/JA64UE82BU.
JAMA
1.Kalaycı A, Altuğ H, Özkorucuklu S. Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi. 2013;3:13–18.
MLA
Kalaycı, Ahmet, vd. “Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop”. Teknik Bilimler Dergisi, c. 3, sy 1, Şubat 2013, ss. 13-18, https://izlik.org/JA64UE82BU.
Vancouver
1.Ahmet Kalaycı, Hüseyin Altuğ, Suat Özkorucuklu. Çok Noktadan Otomatik Odaklama Kontrollü Sayısal Mikroskop. Teknik Bilimler Dergisi [Internet]. 01 Şubat 2013;3(1):13-8. Erişim adresi: https://izlik.org/JA64UE82BU